(2019). Characterisation and control of defects in semiconductors. <<The>> Institution of Engineering and Technology. https://doi.org/10.1049/PBCS045E
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Characterisation and Control of Defects in Semiconductors. London: <<The>> Institution of Engineering and Technology, 2019. https://doi.org/10.1049/PBCS045E.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Characterisation and Control of Defects in Semiconductors. <<The>> Institution of Engineering and Technology, 2019. https://doi.org/10.1049/PBCS045E.
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