An introduction to surface analysis by XPS and AES:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Watts, John F. (VerfasserIn), Wolstenholme, John (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Hoboken, NJ Wiley 2020
Ausgabe:second edition
Schlagworte:
Beschreibung:xviii, 267 Seiten Illustrationen, Diagramme
ISBN:9781119417583

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