VLSI design and test: 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019 : revised selected papers
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: VDAT Indore (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Sengupta, Anirban ca. 20./21. Jahrhundert (HerausgeberIn), Dasgupta, Sudeb (HerausgeberIn), Singh, Virendra (HerausgeberIn), Sharma, Rohit (HerausgeberIn), Kumar Vishvakarma, Santosh (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch Tagungsbericht E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Singapore Springer [2019]
Schriftenreihe:Communications in Computer and Information Science 1066
Schlagworte:
Online-Zugang:BTU01
FHA01
FHI01
FHM01
FHN01
FHR01
FKE01
FLA01
FRO01
FWS01
FWS02
HTW01
UBG01
UBM01
UBR01
UBT01
UBW01
UBY01
UER01
UPA01
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (xvi, 775 Seiten) Illustrationen
ISBN:9789813297678
ISSN:1865-0929
DOI:10.1007/978-981-32-9767-8