Oberflächenphysik: Grundlagen und Methoden
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Berlin ; Boston
De Gruyter
[2019]
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| Ausgabe: | 2. Auflage |
| Schriftenreihe: | De Gruyter Studium
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| Beschreibung: | XI, 201 Seiten Illustrationen, Diagramme 24 cm |
| ISBN: | 9783110635898 |
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INHALT
VORWORT
*
V
LEGENDE
*
XIII
GRUNDLAGEN
1
1.1
1.1.1
1.1.2
1.1.3
1.1.4
1.2
1.2.1
1.2.2
1.2.3
1.2.4
1.2.5
1.3
EIGENSCHAFTEN
VON
OBERFLAECHEN
*
3
ATOMARE
STRUKTUR
VON
OBERFLAECHEN
-----
3
OBERFLAECHENKRISTALLOGRAFIE
-----
4
UEBERGITTER
UND
UEBERSTRUKTUREN
-----
9
OBERFLAECHENRELAXATION
-----
13
OBERFLAECHENREKONSTRUKTION
-----
16
ELEKTRONISCHE
STRUKTUR
-----
22
BLOCHTHEOREM
-----
23
OBERFLAECHENBRILLOUINZONEN
-----
25
PROJIZIERTE
VOLUMENBANDSTRUKTUR
-----
27
OBERFLAECHENZUSTAENDE
*
30
AUSTRITTSARBEIT
-----
35
GITTERSCHWINGUNGEN
AN
OBERFLAECHEN
*
37
2
2.1
2.1.1
2.1.2
2.2
2.2.1
2.2.2
2.2.3
2.3
2.3.1
2.3.2
2.3.3
2.3.4
PROZESSE
AN
OBERFLAECHEN
*
43
ENERGIEVERLUSTPROZESSE
VON
ELEKTRONEN
-----
43
ENERGIEVERTEILUNG
GESTREUTER
ELEKTRONEN
-----44
INELASTISCHE
MITTLERE
FREIE
WEGLAENGE
*
47
ADSORPTION,
DESORPTION
UND
DIFFUSION
-----
48
ADSORPTION
-----49
DESORPTION
-----
52
DIFFUSION
-----
54
SCHICHTWACHSTUM
UND
EPITAXIE
-----
56
WACHSTUMSMODI
-----
56
KEIMBILDUNG
-----
57
EPITAXIE
*
59
NANOSTRUKTURIERUNG
DURCH
SELBSTORGANISATION
*
60
X
*
INHALT
METHODEN
3
3.1
3.2
3.2.1
3.2.2
3.2.3
3.2.4
3.3
3.3.1
3.3.2
PRAEPARATION
VON
OBERFLAECHEN
*
69
QUELLEN
VON
VERUNREINIGUNGEN
-----
69
PRAEPARATION
SAUBERER
EINKRISTALLOBERFLAECHEN
*
71
SPALTEN
-----
71
HEIZEN
-----
71
CHEMISCHES
REINIGEN
-----
73
LONENINDUZIERTE
ZERSTAEUBUNG
-----
74
MODIFIZIERUNG
VON
OBERFLAECHEN
----
76
ADSORBATBEDECKTE
OBERFLAECHEN
----
77
SCHICHTEN
AUF
OBERFLAECHEN
-----
77
4
4.1
4.2
4.3
4.3.1
4.3.2
4.3.3
4.4
4.5
4.6
4.7
METHODEN
ZUR
BESTIMMUNG
DER
GEOMETRISCHEN
STRUKTUR
*
81
BEUGUNGSMETHODEN
ZUR
STRUKTURBESTIMMUNG
-----
82
KINEMATISCHE
BESCHREIBUNG
DER
BEUGUNG
-----
83
BEUGUNG
LANGSAMER
ELEKTRONEN
*
88
EXPERIMENT
-----
88
GEOMETRIE
DES
BEUGUNGSBILDES
*
90
STRUKTURBESTIMMUNG
*
93
BEUGUNG
HOCHENERGETISCHER
ELEKTRONEN
*
97
OBERFLAECHENROENTGENBEUGUNG
*
98
HELIUMBEUGUNG
-----
99
FEINSTRUKTUR
DER
ROENTGENABSORPTION
*
101
5
5.1
5.1.1
5.1.2
5.1.3
5.1.4
5.1.5
5.2
5.2.1
5.2.2
5.2.3
5.2.4
5.2.5
5.3
5.3.1
5.3.2
ELEKTRONENSPEKTROSKOPIEN
*
105
INSTRUMENTIERUNG
*
106
ELEKTRONENQUELLEN
*
106
PHOTONENQUELLEN
*
108
ENERGIESELEKTIVE
ANALYSATOREN
*
110
ELEKTRONENNACHWEIS
*
112
MODULATIONSTECHNIK
-----
113
ELEMENTSPEZIFISCHE
SPEKTROSKOPIE
*
114
ROENTGEN-PHOTOELEKTRONENSPEKTROSKOPIE
*
114
RUMPFNIVEAUVERSCHIEBUNGEN
*
118
AUGERELEKTRONENSPEKTROSKOPIE
-----
120
LINIENFORM
VON
AUGERELEKTRONENSPEKTREN
-----
123
QUALITATIVE
UND
QUANTITATIVE
ELEMENTANALYSE
*
124
OBERFLAECHENBANDSTRUKTURBESTIMMUNG
*
127
WINKELAUFGELOESTE
PHOTOEMISSION
*
127
INVERSE
PHOTOEMISSION
-----
132
INHALT
*
XI
5.3.3
5.3.4
5.4
5.4.1
5.4.2
5.4.3
ZWEIPHOTONEN-PHOTOEMISSION
*
133
AUSWAHLREGELN
BEI
PHOTOEMISSION
*
136
SPEKTROSKOPIE
VON
OBERFLAECHENSCHWINGUNGEN
*
137
GRUNDLAGEN
UND
EXPERIMENT
*
137
WECHSELWIRKUNGSMECHANISMEN
UND
AUSWAHLREGELN
-----
139
ANWENDUNGSBEISPIELE
*
142
6
6.1
6.2
6.2.1
6.2.2
6.2.3
6.2.4
6.3
6.3.1
6.3.2
RASTERSONDENMIKROSKOPIE
*
149
PRINZIP
DER
RASTERSONDENMETHODEN
*
149
RASTERTUNNELMIKROSKOP
*
150
TOPOGRAFISCHE
AUFNAHMEN
*
152
TUNNELPROZESS
*
155
SPEKTROSKOPIE
-----
158
ANWENDUNGEN
UND
WEITERE
WECHSELWIRKUNGSMECHANISMEN
*
161
RASTERKRAFTMIKROSKOP
*
161
KRAEFTE
UND
IHRE
AUSWIRKUNG
IM
RASTERKRAFTMIKROSKOP
*
165
ANWENDUNGEN
UND
WEITERE
WECHSELWIRKUNGSMECHANISMEN
-----
167
7
7.1
7.1.1
7.1.2
7.1.3
7.1.4
7.2
TEILCHENSPEKTROSKOPIEN
*
170
THERMISCHE
DESORPTIONSSPEKTROSKOPIE
*
170
GRUNDLAGEN
UND
VERSUCHSANORDNUNG
*
171
SPEKTRENTYPEN
-----
173
AUSWERTUNG
VON
DESORPTIONSSPEKTREN
*
175
DESORPTIONSSPEKTREN
MIT
MEHREREN
MAXIMA
-----
178
LONENSTREUUNG
-----
179
A
A.L
A.2
A.3
A.4
ANHANG
-----
183
OBERFLAECHEN
VON
HCP-KRISTALLEN
*
183
BESTIMMUNG
VON
EBENENGRUPPEN
*
183
BRILLOUINZONEN
UND
SPIEGELEBENEN
*
185
ENERGIEN
FUER
AUGERUEBERGAENGE
-----
187
ANTWORTEN
ZU
UEBUNGS-
UND
VERSTAENDNISFRAGEN
*
189
ABKUERZUNGEN
*
195
STICHWORTVERZEICHNIS
*
197 |
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| spelling | Fauster, Thomas 1955- Verfasser (DE-588)112110290 aut Oberflächenphysik Grundlagen und Methoden Thomas Fauster, Lutz Hammer, Klaus Heinz, M. Alexander Schneider 2. Auflage Berlin ; Boston De Gruyter [2019] © 2019 XI, 201 Seiten Illustrationen, Diagramme 24 cm txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier De Gruyter Studium Rastersondenmikroskopie (DE-588)4330328-6 gnd rswk-swf Oberflächenphysik (DE-588)4134881-3 gnd rswk-swf Elektronenspektroskopie (DE-588)4014332-6 gnd rswk-swf Fachhochschul-/Hochschulausbildung (DE-588)4123623-3 Lehrbuch gnd-content Oberflächenphysik (DE-588)4134881-3 s DE-604 Elektronenspektroskopie (DE-588)4014332-6 s Rastersondenmikroskopie (DE-588)4330328-6 s Hammer, Lutz Verfasser (DE-588)1199070688 aut Heinz, Klaus 1944- Verfasser (DE-588)131740318 aut Schneider, M. Alexander Verfasser (DE-588)1198351071 aut Walter de Gruyter GmbH & Co. KG (DE-588)10095502-2 pbl Erscheint auch als Online-Ausgabe, PDF 978-3-11-063661-1 Erscheint auch als Online-Ausgabe, EPUB 978-3-11-063712-0 DNB Datenaustausch application/pdf http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=031315056&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA Inhaltsverzeichnis |
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