Verfügbarkeit: Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films

Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films:

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Duren, Stephan van (VerfasserIn)
Format:	Abschlussarbeit Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Berlin Universitätsverlag der TU Berlin 2019
Schriftenreihe:	Advanced ceramic materials 2
Schlagworte:	Schichtwachstum Solarzelle Reflektometrie Dünne Schicht Kesterit Röntgendiffraktometrie Raman-Spektroskopie Halbleiterschicht Prozessüberwachung Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung PNK In situ Prozesskontrolle Optik annealing in situ process control kesterite optics phase evolution Hochschulschrift
Online-Zugang:	Volltext
Beschreibung:	1 Online-Ressource (xix, 183 Seiten) Illustrationen, Diagramme
ISBN:	9783798330658
DOI:	10.14279/depositonce-7732

Internformat

MARC


LEADER	00000nmm a2200000 cb4500
001	BV045912900
003	DE-604
005	20190618
006	a m\|\|\| 00\|\|\|
007	cr\|uuu---uuuuu
008	190605s2019 gw \|\|\|\| o\|\|u\| \|\|\|\|\|\|eng d
015			\|a 19,N24 \|2 dnb
020			\|a 9783798330658 \|9 978-3-7983-3065-8
024	7		\|a 10.14279/depositonce-7732 \|2 doi
035			\|a (OCoLC)1104934124
035			\|a (DE-599)BVBBV045912900
040			\|a DE-604 \|b ger \|e rda
041	0		\|a eng
044			\|a gw \|c XA-DE-BE
049			\|a DE-83
084			\|a ZM 3700 \|0 (DE-625)157028: \|2 rvk
084			\|a ZN 5160 \|0 (DE-625)157437: \|2 rvk
084			\|a 540 \|2 sdnb
100	1		\|a Duren, Stephan van \|e Verfasser \|0 (DE-588)1187870137 \|4 aut
245	1	0	\|a Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films \|c Stephan van Duren
263			\|a 201906
264		1	\|a Berlin \|b Universitätsverlag der TU Berlin \|c 2019
300			\|a 1 Online-Ressource (xix, 183 Seiten) \|b Illustrationen, Diagramme
336			\|b txt \|2 rdacontent
337			\|b c \|2 rdamedia
338			\|b cr \|2 rdacarrier
490	1		\|a Advanced ceramic materials \|v 2
502			\|b Dissertation \|c Technische Universität Berlin \|d 2018
650	0	7	\|a Schichtwachstum \|0 (DE-588)4273432-0 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Solarzelle \|0 (DE-588)4181740-0 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Reflektometrie \|0 (DE-588)4296759-4 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Dünne Schicht \|0 (DE-588)4136925-7 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Kesterit \|0 (DE-588)4642407-6 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Röntgendiffraktometrie \|0 (DE-588)4336833-5 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Raman-Spektroskopie \|0 (DE-588)4176916-8 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Halbleiterschicht \|0 (DE-588)4158812-5 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Prozessüberwachung \|0 (DE-588)4133922-8 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung \|0 (DE-588)4067689-4 \|2 gnd \|9 rswk-swf
653			\|a PNK
653			\|a In situ Prozesskontrolle
653			\|a Kesterit
653			\|a Optik
653			\|a annealing
653			\|a in situ process control
653			\|a kesterite
653			\|a optics
653			\|a phase evolution
653			\|a PNK
655		7	\|0 (DE-588)4113937-9 \|a Hochschulschrift \|2 gnd-content
689	0	0	\|a Kesterit \|0 (DE-588)4642407-6 \|D s
689	0	1	\|a Dünne Schicht \|0 (DE-588)4136925-7 \|D s
689	0	2	\|a Solarzelle \|0 (DE-588)4181740-0 \|D s
689	0	3	\|a Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung \|0 (DE-588)4067689-4 \|D s
689	0	4	\|a Prozessüberwachung \|0 (DE-588)4133922-8 \|D s
689	0	5	\|a Raman-Spektroskopie \|0 (DE-588)4176916-8 \|D s
689	0	6	\|a Röntgendiffraktometrie \|0 (DE-588)4336833-5 \|D s
689	0	7	\|a Reflektometrie \|0 (DE-588)4296759-4 \|D s
689	0		\|5 DE-604
689	1	0	\|a Kesterit \|0 (DE-588)4642407-6 \|D s
689	1	1	\|a Halbleiterschicht \|0 (DE-588)4158812-5 \|D s
689	1	2	\|a Schichtwachstum \|0 (DE-588)4273432-0 \|D s
689	1	3	\|a Reflektometrie \|0 (DE-588)4296759-4 \|D s
689	1	4	\|a Raman-Spektroskopie \|0 (DE-588)4176916-8 \|D s
689	1	5	\|a Röntgendiffraktometrie \|0 (DE-588)4336833-5 \|D s
689	1		\|8 1\p \|5 DE-604
710	2		\|a Technische Universität Berlin \|b Universitätsbibliothek \|0 (DE-588)5053182-7 \|4 pbl
776	0	8	\|i Erscheint auch als \|n Druck-Ausgabe \|z 978-3-7983-3064-1 \|w (DE-604)BV045912890
830		0	\|a Advanced ceramic materials \|v 2 \|w (DE-604)BV045103058 \|9 2
856	4	0	\|u https://doi.org/10.14279/depositonce-7732 \|x Resolving-System \|z kostenfrei \|3 Volltext
912			\|a ebook
999			\|a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-031295437
883	1		\|8 1\p \|a cgwrk \|d 20201028 \|q DE-101 \|u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk

Datensatz im Suchindex

_version_	1804180085635284992
any_adam_object
author	Duren, Stephan van
author_GND	(DE-588)1187870137
author_facet	Duren, Stephan van
author_role	aut
author_sort	Duren, Stephan van
author_variant	s v d sv svd
building	Verbundindex
bvnumber	BV045912900
classification_rvk	ZM 3700 ZN 5160
collection	ebook
ctrlnum	(OCoLC)1104934124 (DE-599)BVBBV045912900
discipline	Chemie / Pharmazie Werkstoffwissenschaften / Fertigungstechnik Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik
doi_str_mv	10.14279/depositonce-7732
format	Thesis Electronic eBook
fullrecord	<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>03597nmm a2200889 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV045912900</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20190618 </controlfield><controlfield tag="006">a m\|\|\| 00\|\|\| </controlfield><controlfield tag="007">cr\|uuu---uuuuu</controlfield><controlfield tag="008">190605s2019 gw \|\|\|\| o\|\|u\| \|\|\|\|\|\|eng d</controlfield><datafield tag="015" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">19,N24</subfield><subfield code="2">dnb</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783798330658</subfield><subfield code="9">978-3-7983-3065-8</subfield></datafield><datafield tag="024" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">10.14279/depositonce-7732</subfield><subfield code="2">doi</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)1104934124</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV045912900</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rda</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">eng</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">XA-DE-BE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZM 3700</subfield><subfield code="0">(DE-625)157028:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 5160</subfield><subfield code="0">(DE-625)157437:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">540</subfield><subfield code="2">sdnb</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Duren, Stephan van</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)1187870137</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films</subfield><subfield code="c">Stephan van Duren</subfield></datafield><datafield tag="263" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">201906</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Berlin</subfield><subfield code="b">Universitätsverlag der TU Berlin</subfield><subfield code="c">2019</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1 Online-Ressource (xix, 183 Seiten)</subfield><subfield code="b">Illustrationen, Diagramme</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">c</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">cr</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Advanced ceramic materials</subfield><subfield code="v">2</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">Dissertation</subfield><subfield code="c">Technische Universität Berlin</subfield><subfield code="d">2018</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Schichtwachstum</subfield><subfield code="0">(DE-588)4273432-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Solarzelle</subfield><subfield code="0">(DE-588)4181740-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Reflektometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4296759-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Dünne Schicht</subfield><subfield code="0">(DE-588)4136925-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Kesterit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4642407-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Röntgendiffraktometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4336833-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Raman-Spektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4176916-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleiterschicht</subfield><subfield code="0">(DE-588)4158812-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Prozessüberwachung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133922-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4067689-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PNK</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">In situ Prozesskontrolle</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Kesterit</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Optik</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">annealing</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">in situ process control</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">kesterite</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">optics</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">phase evolution</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PNK</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Kesterit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4642407-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Dünne Schicht</subfield><subfield code="0">(DE-588)4136925-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Solarzelle</subfield><subfield code="0">(DE-588)4181740-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4067689-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">Prozessüberwachung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4133922-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="5"><subfield code="a">Raman-Spektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4176916-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="6"><subfield code="a">Röntgendiffraktometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4336833-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Reflektometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4296759-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Kesterit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4642407-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Halbleiterschicht</subfield><subfield code="0">(DE-588)4158812-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Schichtwachstum</subfield><subfield code="0">(DE-588)4273432-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">Reflektometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4296759-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="4"><subfield code="a">Raman-Spektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4176916-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="5"><subfield code="a">Röntgendiffraktometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4336833-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Technische Universität Berlin</subfield><subfield code="b">Universitätsbibliothek</subfield><subfield code="0">(DE-588)5053182-7</subfield><subfield code="4">pbl</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="0" ind2="8"><subfield code="i">Erscheint auch als</subfield><subfield code="n">Druck-Ausgabe</subfield><subfield code="z">978-3-7983-3064-1</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV045912890</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Advanced ceramic materials</subfield><subfield code="v">2</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV045103058</subfield><subfield code="9">2</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="0"><subfield code="u">https://doi.org/10.14279/depositonce-7732</subfield><subfield code="x">Resolving-System</subfield><subfield code="z">kostenfrei</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ebook</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-031295437</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection>
genre	(DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content
genre_facet	Hochschulschrift
id	DE-604.BV045912900
illustrated	Not Illustrated
indexdate	2024-07-10T08:30:09Z
institution	BVB
institution_GND	(DE-588)5053182-7
isbn	9783798330658
language	English
oai_aleph_id	oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-031295437
oclc_num	1104934124
open_access_boolean	1
owner	DE-83
owner_facet	DE-83
physical	1 Online-Ressource (xix, 183 Seiten) Illustrationen, Diagramme
psigel	ebook
publishDate	2019
publishDateSearch	2019
publishDateSort	2019
publisher	Universitätsverlag der TU Berlin
record_format	marc
series	Advanced ceramic materials
series2	Advanced ceramic materials
spelling	Duren, Stephan van Verfasser (DE-588)1187870137 aut Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films Stephan van Duren 201906 Berlin Universitätsverlag der TU Berlin 2019 1 Online-Ressource (xix, 183 Seiten) Illustrationen, Diagramme txt rdacontent c rdamedia cr rdacarrier Advanced ceramic materials 2 Dissertation Technische Universität Berlin 2018 Schichtwachstum (DE-588)4273432-0 gnd rswk-swf Solarzelle (DE-588)4181740-0 gnd rswk-swf Reflektometrie (DE-588)4296759-4 gnd rswk-swf Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 gnd rswk-swf Kesterit (DE-588)4642407-6 gnd rswk-swf Röntgendiffraktometrie (DE-588)4336833-5 gnd rswk-swf Raman-Spektroskopie (DE-588)4176916-8 gnd rswk-swf Halbleiterschicht (DE-588)4158812-5 gnd rswk-swf Prozessüberwachung (DE-588)4133922-8 gnd rswk-swf Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung (DE-588)4067689-4 gnd rswk-swf PNK In situ Prozesskontrolle Kesterit Optik annealing in situ process control kesterite optics phase evolution (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Kesterit (DE-588)4642407-6 s Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 s Solarzelle (DE-588)4181740-0 s Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung (DE-588)4067689-4 s Prozessüberwachung (DE-588)4133922-8 s Raman-Spektroskopie (DE-588)4176916-8 s Röntgendiffraktometrie (DE-588)4336833-5 s Reflektometrie (DE-588)4296759-4 s DE-604 Halbleiterschicht (DE-588)4158812-5 s Schichtwachstum (DE-588)4273432-0 s 1\p DE-604 Technische Universität Berlin Universitätsbibliothek (DE-588)5053182-7 pbl Erscheint auch als Druck-Ausgabe 978-3-7983-3064-1 (DE-604)BV045912890 Advanced ceramic materials 2 (DE-604)BV045103058 2 https://doi.org/10.14279/depositonce-7732 Resolving-System kostenfrei Volltext 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk
spellingShingle	Duren, Stephan van Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films Advanced ceramic materials Schichtwachstum (DE-588)4273432-0 gnd Solarzelle (DE-588)4181740-0 gnd Reflektometrie (DE-588)4296759-4 gnd Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 gnd Kesterit (DE-588)4642407-6 gnd Röntgendiffraktometrie (DE-588)4336833-5 gnd Raman-Spektroskopie (DE-588)4176916-8 gnd Halbleiterschicht (DE-588)4158812-5 gnd Prozessüberwachung (DE-588)4133922-8 gnd Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung (DE-588)4067689-4 gnd
subject_GND	(DE-588)4273432-0 (DE-588)4181740-0 (DE-588)4296759-4 (DE-588)4136925-7 (DE-588)4642407-6 (DE-588)4336833-5 (DE-588)4176916-8 (DE-588)4158812-5 (DE-588)4133922-8 (DE-588)4067689-4 (DE-588)4113937-9
title	Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films
title_auth	Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films
title_exact_search	Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films
title_full	Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films Stephan van Duren
title_fullStr	Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films Stephan van Duren
title_full_unstemmed	Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films Stephan van Duren
title_short	Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films
title_sort	development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of cu zn sn s based thin films
topic	Schichtwachstum (DE-588)4273432-0 gnd Solarzelle (DE-588)4181740-0 gnd Reflektometrie (DE-588)4296759-4 gnd Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 gnd Kesterit (DE-588)4642407-6 gnd Röntgendiffraktometrie (DE-588)4336833-5 gnd Raman-Spektroskopie (DE-588)4176916-8 gnd Halbleiterschicht (DE-588)4158812-5 gnd Prozessüberwachung (DE-588)4133922-8 gnd Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung (DE-588)4067689-4 gnd
topic_facet	Schichtwachstum Solarzelle Reflektometrie Dünne Schicht Kesterit Röntgendiffraktometrie Raman-Spektroskopie Halbleiterschicht Prozessüberwachung Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung Hochschulschrift
url	https://doi.org/10.14279/depositonce-7732
volume_link	(DE-604)BV045103058
work_keys_str_mv	AT durenstephanvan developmentofinsitumethodsforprocessmonitoringandcontrolandcharacterizationofcuznsnsbasedthinfilms AT technischeuniversitatberlinuniversitatsbibliothek developmentofinsitumethodsforprocessmonitoringandcontrolandcharacterizationofcuznsnsbasedthinfilms

Verfügbarkeit

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Volltext öffnen

MARC

Datensatz im Suchindex

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Ähnliche Einträge