Voigtländer, B. (2019). Atomic force microscopy (Second edition.). Springer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Second edition. Cham: Springer, 2019.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Voigtländer, Bert. Atomic Force Microscopy. Second edition. Springer, 2019.
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