Defects in advanced electronic materials and novel low dimensional structures:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Stehr, Jan (HerausgeberIn), Buyanova, Irina (HerausgeberIn), Chen, Weimin (HerausgeberIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Duxford, United Kingdom Woodhead Publishing, an imprint of Elsevier [2018]
Schriftenreihe:Woodhead publishing series in electronic and optical materials
Schlagworte:
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:xiii, 293 Seiten Illustrationen, Diagramme
ISBN:9780081020531

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