Verfügbarkeit: Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden

Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden:

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Rauer, Miriam (VerfasserIn)
Format:	Abschlussarbeit Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Erlangen FAU University Press 2018
Schriftenreihe:	FAU Studien aus dem Maschinenbau Band 313
Schlagworte:	Lumineszenzdiode Bleifreies Produkt Rissbildung Lötverbindung Weichlot Zuverlässigkeit Pore Computertomografie Finite-Elemente-Methode Verbindungstechnik Lastwechselverhalten Poren Temperaturschocktest Lastwechseltest Hochschulschrift
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Beschreibung:	xii, 209 Seiten Illustrationen, Diagramme
ISBN:	9783961471577
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spelling	Rauer, Miriam (DE-588)1179134672 aut Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden Miriam Rauer The influence of voids on the reliability of solder joints of high power LEDs Erlangen FAU University Press 2018 xii, 209 Seiten Illustrationen, Diagramme txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier FAU Studien aus dem Maschinenbau Band 313 Dissertation Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg 2018 Lumineszenzdiode (DE-588)4125154-4 gnd rswk-swf Bleifreies Produkt (DE-588)7640225-3 gnd rswk-swf Rissbildung (DE-588)4050137-1 gnd rswk-swf Lötverbindung (DE-588)4195776-3 gnd rswk-swf Weichlot (DE-588)4189409-1 gnd rswk-swf Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd rswk-swf Pore (DE-588)4352629-9 gnd rswk-swf Computertomografie (DE-588)4113240-3 gnd rswk-swf Finite-Elemente-Methode (DE-588)4017233-8 gnd rswk-swf Verbindungstechnik (DE-588)4129183-9 gnd rswk-swf Lastwechselverhalten (DE-588)4166844-3 gnd rswk-swf Poren Temperaturschocktest Lastwechseltest (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Verbindungstechnik (DE-588)4129183-9 s Lötverbindung (DE-588)4195776-3 s Lumineszenzdiode (DE-588)4125154-4 s Lastwechselverhalten (DE-588)4166844-3 s Weichlot (DE-588)4189409-1 s Rissbildung (DE-588)4050137-1 s Finite-Elemente-Methode (DE-588)4017233-8 s Computertomografie (DE-588)4113240-3 s Bleifreies Produkt (DE-588)7640225-3 s DE-604 Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 s Pore (DE-588)4352629-9 s Erscheint auch als Online-Ausgabe 10.25593/978-3-96147-157-7 urn:nbn:de:bvb:29-opus4-104749 978-3-96147-158-4 FAU Studien aus dem Maschinenbau Band 313 (DE-604)BV045445989 313 https://open.fau.de/handle/openfau/10474 Verlag kostenfrei Volltext https://doi.org/10.25593/978-3-96147-157-7 Resolving-System kostenfrei Volltext https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus4-104749 Resolving-System kostenfrei Volltext http://d-nb.info/1178794369/34 Langzeitarchivierung Nationalbibliothek kostenfrei Volltext
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