The practice of TOF-SIMS: time of flight secondary ion mass spectrometry
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Spool, Alan M. ca. 20./21. Jh (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY Momentum Press [2016]
Schriftenreihe:Materials characterization and analysis collection
Schlagworte:
Online-Zugang:http://portal.igpublish.com/iglibrary/search/MPB0000220.html
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:xviii, 169 Seiten Illustrationen, Diagramme
ISBN:9781606507735

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!