Semiconductor strain metrology: principles and applications
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wong, Terence K. S. (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: [Saif Zone, Sharjah, U.A.E] ; Oak Park, IL Bentham Science [2012]
Schlagworte:
Beschreibung:1 online resource (136 pages :) illustrations
ISBN:9781608053599
1608053598

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!