APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Wang, L., & Wen, X. (2006). VLSI test principles and architectures: Design for testability. Elsevier Morgan Kaufmann Publishers.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Wang, Laung-Terng, und Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Amsterdam ; Boston: Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, 2006.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

Wang, Laung-Terng, und Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, 2006.