Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Jayanthy, S. (VerfasserIn), Bhuvaneswari, M.C (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Singapore Springer Singapore 2019
Schlagworte:
Online-Zugang:BTU01
FAW01
FHA01
FHI01
FHM01
FHN01
FHR01
FKE01
FLA01
FRO01
FWS01
FWS02
HTW01
TUM01
UBA01
UBY01
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (XI, 156 p. 49 illus., 7 illus. in color)
ISBN:9789811324932
DOI:10.1007/978-981-13-2493-2