Fundamentals of electromigration-aware integrated circuit design:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Lienig, Jens 196X- (VerfasserIn), Thiele, Matthias (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Cham Springer [2018]
Online-Zugang:Inhaltstext
http://www.springer.com/
Beschreibung:VIII, 159 Seiten Illustrationen, Diagramme
ISBN:9783319735573
3319735578

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