Assessment sensitivity: relative truth and its applications
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: MacFarlane, John (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Oxford Oxford University Press 2016
Schriftenreihe:Context and content
Schlagworte:
Beschreibung:XV, 344 Seiten 24 cm
ISBN:9780198776819

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!