Stapper, C. H., Jain, V. K., & Saucier, G. (1990). Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2. Springer US. https://doi.org/10.1007/978-1-4757-9957-6
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Stapper, C. H., V. K. Jain, und G. Saucier. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2. Boston, MA: Springer US, 1990. https://doi.org/10.1007/978-1-4757-9957-6.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Stapper, C. H., et al. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2. Springer US, 1990. https://doi.org/10.1007/978-1-4757-9957-6.
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