Structural, syntactic, and statistical pattern recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 17-19, 2018 : proceedings
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: S+SSPR Peking (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Bai, Xiao (HerausgeberIn), Hancock, Edwin R. 1956- (HerausgeberIn), Ho, Tin Kam (HerausgeberIn), Wilson, Richard C. (HerausgeberIn), Biggio, Battista (HerausgeberIn), Robles-Kelly, Antonio (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch Tagungsbericht E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cham, Switzerland Springer [2018]
Schriftenreihe:Lecture notes in computer science 11004 : Image processing, computer vision, pattern recognition, and graphics
Schlagworte:
Online-Zugang:DE-634
DE-Aug4
DE-573
DE-M347
DE-92
DE-898
DE-859
DE-860
DE-861
DE-863
DE-862
DE-523
DE-91
DE-384
DE-473
DE-19
DE-355
DE-703
DE-20
DE-706
DE-29
DE-739
URL des Erstveröffentlichers
Beschreibung:1 Online-Ressource Illustrationen, Diagramme
ISBN:9783319977850
DOI:10.1007/978-3-319-97785-0