Bushnell, M. L., & Agrawal, V. D. (2002). Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits. Springer. https://doi.org/10.1007/b117406
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Bushnell, Michael L., und Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-signal VLSI Circuits. Boston, MA: Springer, 2002. https://doi.org/10.1007/b117406.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Bushnell, Michael L., und Vishwani D. Agrawal. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-signal VLSI Circuits. Springer, 2002. https://doi.org/10.1007/b117406.
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