Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Champac, Victor 1964- (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cham Springer International Publishing 2018
Schriftenreihe:Frontiers in Electronic Testing 39
Schlagworte:
Online-Zugang:BTU01
FAW01
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FWS02
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TUM01
UBY01
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (XVIII, 185 p. 116 illus., 91 illus. in color)
ISBN:9783319754659
ISSN:0929-1296
DOI:10.1007/978-3-319-75465-9