Verfügbarkeit: Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen

Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen:

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Schmidt, Martin (VerfasserIn)
Format:	Abschlussarbeit Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	München Verlag Dr. Hut 2018
Ausgabe:	1. Auflage
Schriftenreihe:	Elektrotechnik
Schlagworte:	Elektromagnetische Verträglichkeit Empfindlichkeit Messung Nahfeld EMV Nahfeldmessung Sondenkompensation Hochschulschrift
Online-Zugang:	Volltext Volltext Volltext Inhaltstext Volltext
Beschreibung:	180 Seiten Illustrationen 21 cm x 14.8 cm, 280 g
ISBN:	9783843934299

Internformat

MARC


LEADER	00000nam a22000008c 4500
001	BV044874534
003	DE-604
005	20190204
007	t
008	180320s2018 gw a\|\|\| m\|\|\| 00\|\|\| ger d
015			\|a 18,N06 \|2 dnb
016	7		\|a 1151591831 \|2 DE-101
020			\|a 9783843934299 \|c Paperback : EUR 42.00 (DE), EUR 43.20 (AT) \|9 978-3-8439-3429-9
024	3		\|a 9783843934299
035			\|a (OCoLC)1023624053
035			\|a (DE-599)DNB1151591831
040			\|a DE-604 \|b ger \|e rda
041	0		\|a ger
044			\|a gw \|c XA-DE-BY
049			\|a DE-91 \|a DE-29 \|a DE-12 \|a DE-384 \|a DE-473 \|a DE-703 \|a DE-1051 \|a DE-824 \|a DE-19 \|a DE-1049 \|a DE-92 \|a DE-739 \|a DE-898 \|a DE-355 \|a DE-706 \|a DE-20 \|a DE-1102 \|a DE-860 \|a DE-2174 \|a DE-29T
084			\|a 621.3 \|2 sdnb
084			\|a MSR 280d \|2 stub
100	1		\|a Schmidt, Martin \|e Verfasser \|0 (DE-588)1154895661 \|4 aut
245	1	0	\|a Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen \|c vorgelegt von Martin Schmidt
250			\|a 1. Auflage
264		1	\|a München \|b Verlag Dr. Hut \|c 2018
300			\|a 180 Seiten \|b Illustrationen \|c 21 cm x 14.8 cm, 280 g
336			\|b txt \|2 rdacontent
337			\|b n \|2 rdamedia
338			\|b nc \|2 rdacarrier
490	0		\|a Elektrotechnik
502			\|b Dissertation \|c Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg \|d 2017
650	0	7	\|a Elektromagnetische Verträglichkeit \|0 (DE-588)4138552-4 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Empfindlichkeit \|0 (DE-588)4127339-4 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Messung \|0 (DE-588)4038852-9 \|2 gnd \|9 rswk-swf
650	0	7	\|a Nahfeld \|0 (DE-588)4312216-4 \|2 gnd \|9 rswk-swf
653			\|a EMV
653			\|a Nahfeldmessung
653			\|a Sondenkompensation
655		7	\|0 (DE-588)4113937-9 \|a Hochschulschrift \|2 gnd-content
689	0	0	\|a Elektromagnetische Verträglichkeit \|0 (DE-588)4138552-4 \|D s
689	0	1	\|a Nahfeld \|0 (DE-588)4312216-4 \|D s
689	0	2	\|a Messung \|0 (DE-588)4038852-9 \|D s
689	0	3	\|a Empfindlichkeit \|0 (DE-588)4127339-4 \|D s
689	0		\|5 DE-604
710	2		\|a Verlag Dr. Hut (München) \|0 (DE-588)10174118-2 \|4 pbl
776	0	8	\|i Erscheint auch als \|n Online-Ausgabe \|o urn:nbn:de:bvb:29-opus4-93679 \|t Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen \|d München : Verlag Dr. Hut, 2018 \|h Online-Ressource, 180 Seiten
856	4	1	\|u http://d-nb.info/1152438263/34 \|x Langzeitarchivierung Nationalbibliothek \|z kostenfrei \|3 Volltext
856	4	1	\|u https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus4-93679 \|x Resolving-System \|z kostenfrei \|3 Volltext
856	4	1	\|u https://open.fau.de/handle/openfau/9367 \|x Verlag \|z kostenfrei \|3 Volltext
856	4	2	\|m X:MVB \|q text/html \|u http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=28e1e5de724b4f2dbba7f0dd67a50a7d&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm \|x Resolving-System \|z kostenfrei \|3 Inhaltstext
856	4	2	\|m X:MVB \|u http://www.dr.hut-verlag.de/978-3-8439-3429-9.html \|x Langzeitarchivierung Nationalbibliothek \|z kostenfrei \|3 Volltext
912			\|a ebook
999			\|a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-030268896

Datensatz im Suchindex

_version_	1804178408025882625
any_adam_object
author	Schmidt, Martin
author_GND	(DE-588)1154895661
author_facet	Schmidt, Martin
author_role	aut
author_sort	Schmidt, Martin
author_variant	m s ms
building	Verbundindex
bvnumber	BV044874534
classification_tum	MSR 280d
collection	ebook
ctrlnum	(OCoLC)1023624053 (DE-599)DNB1151591831
discipline	Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik Mess-/Steuerungs-/Regelungs-/Automatisierungstechnik
edition	1. Auflage
format	Thesis Book
fullrecord	<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02963nam a22006138c 4500</leader><controlfield tag="001">BV044874534</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20190204 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">180320s2018 gw a\|\|\| m\|\|\| 00\|\|\| ger d</controlfield><datafield tag="015" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">18,N06</subfield><subfield code="2">dnb</subfield></datafield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">1151591831</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783843934299</subfield><subfield code="c">Paperback : EUR 42.00 (DE), EUR 43.20 (AT)</subfield><subfield code="9">978-3-8439-3429-9</subfield></datafield><datafield tag="024" ind1="3" ind2=" "><subfield code="a">9783843934299</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)1023624053</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)DNB1151591831</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rda</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">XA-DE-BY</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-29</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-384</subfield><subfield code="a">DE-473</subfield><subfield code="a">DE-703</subfield><subfield code="a">DE-1051</subfield><subfield code="a">DE-824</subfield><subfield code="a">DE-19</subfield><subfield code="a">DE-1049</subfield><subfield code="a">DE-92</subfield><subfield code="a">DE-739</subfield><subfield code="a">DE-898</subfield><subfield code="a">DE-355</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield><subfield code="a">DE-20</subfield><subfield code="a">DE-1102</subfield><subfield code="a">DE-860</subfield><subfield code="a">DE-2174</subfield><subfield code="a">DE-29T</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">621.3</subfield><subfield code="2">sdnb</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">MSR 280d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Schmidt, Martin</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)1154895661</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen</subfield><subfield code="c">vorgelegt von Martin Schmidt</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1. Auflage</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">München</subfield><subfield code="b">Verlag Dr. Hut</subfield><subfield code="c">2018</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">180 Seiten</subfield><subfield code="b">Illustrationen</subfield><subfield code="c">21 cm x 14.8 cm, 280 g</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Elektrotechnik</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">Dissertation</subfield><subfield code="c">Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg</subfield><subfield code="d">2017</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektromagnetische Verträglichkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4138552-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Empfindlichkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4127339-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Messung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4038852-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Nahfeld</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312216-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">EMV</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Nahfeldmessung</subfield></datafield><datafield tag="653" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Sondenkompensation</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Elektromagnetische Verträglichkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4138552-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Nahfeld</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312216-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Messung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4038852-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Empfindlichkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4127339-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Verlag Dr. Hut (München)</subfield><subfield code="0">(DE-588)10174118-2</subfield><subfield code="4">pbl</subfield></datafield><datafield tag="776" ind1="0" ind2="8"><subfield code="i">Erscheint auch als</subfield><subfield code="n">Online-Ausgabe</subfield><subfield code="o">urn:nbn:de:bvb:29-opus4-93679</subfield><subfield code="t">Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen</subfield><subfield code="d">München : Verlag Dr. Hut, 2018</subfield><subfield code="h">Online-Ressource, 180 Seiten</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="1"><subfield code="u">http://d-nb.info/1152438263/34</subfield><subfield code="x">Langzeitarchivierung Nationalbibliothek</subfield><subfield code="z">kostenfrei</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="1"><subfield code="u">https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus4-93679</subfield><subfield code="x">Resolving-System</subfield><subfield code="z">kostenfrei</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="1"><subfield code="u">https://open.fau.de/handle/openfau/9367</subfield><subfield code="x">Verlag</subfield><subfield code="z">kostenfrei</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">X:MVB</subfield><subfield code="q">text/html</subfield><subfield code="u">http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=28e1e5de724b4f2dbba7f0dd67a50a7d&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm</subfield><subfield code="x">Resolving-System</subfield><subfield code="z">kostenfrei</subfield><subfield code="3">Inhaltstext</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">X:MVB</subfield><subfield code="u">http://www.dr.hut-verlag.de/978-3-8439-3429-9.html</subfield><subfield code="x">Langzeitarchivierung Nationalbibliothek</subfield><subfield code="z">kostenfrei</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ebook</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-030268896</subfield></datafield></record></collection>
genre	(DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content
genre_facet	Hochschulschrift
id	DE-604.BV044874534
illustrated	Illustrated
indexdate	2024-07-10T08:03:29Z
institution	BVB
institution_GND	(DE-588)10174118-2
isbn	9783843934299
language	German
oai_aleph_id	oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-030268896
oclc_num	1023624053
open_access_boolean	1
owner	DE-91 DE-BY-TUM DE-29 DE-12 DE-384 DE-473 DE-BY-UBG DE-703 DE-1051 DE-824 DE-19 DE-BY-UBM DE-1049 DE-92 DE-739 DE-898 DE-BY-UBR DE-355 DE-BY-UBR DE-706 DE-20 DE-1102 DE-860 DE-2174 DE-29T
owner_facet	DE-91 DE-BY-TUM DE-29 DE-12 DE-384 DE-473 DE-BY-UBG DE-703 DE-1051 DE-824 DE-19 DE-BY-UBM DE-1049 DE-92 DE-739 DE-898 DE-BY-UBR DE-355 DE-BY-UBR DE-706 DE-20 DE-1102 DE-860 DE-2174 DE-29T
physical	180 Seiten Illustrationen 21 cm x 14.8 cm, 280 g
psigel	ebook
publishDate	2018
publishDateSearch	2018
publishDateSort	2018
publisher	Verlag Dr. Hut
record_format	marc
series2	Elektrotechnik
spelling	Schmidt, Martin Verfasser (DE-588)1154895661 aut Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen vorgelegt von Martin Schmidt 1. Auflage München Verlag Dr. Hut 2018 180 Seiten Illustrationen 21 cm x 14.8 cm, 280 g txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Elektrotechnik Dissertation Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg 2017 Elektromagnetische Verträglichkeit (DE-588)4138552-4 gnd rswk-swf Empfindlichkeit (DE-588)4127339-4 gnd rswk-swf Messung (DE-588)4038852-9 gnd rswk-swf Nahfeld (DE-588)4312216-4 gnd rswk-swf EMV Nahfeldmessung Sondenkompensation (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Elektromagnetische Verträglichkeit (DE-588)4138552-4 s Nahfeld (DE-588)4312216-4 s Messung (DE-588)4038852-9 s Empfindlichkeit (DE-588)4127339-4 s DE-604 Verlag Dr. Hut (München) (DE-588)10174118-2 pbl Erscheint auch als Online-Ausgabe urn:nbn:de:bvb:29-opus4-93679 Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen München : Verlag Dr. Hut, 2018 Online-Ressource, 180 Seiten http://d-nb.info/1152438263/34 Langzeitarchivierung Nationalbibliothek kostenfrei Volltext https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus4-93679 Resolving-System kostenfrei Volltext https://open.fau.de/handle/openfau/9367 Verlag kostenfrei Volltext X:MVB text/html http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=28e1e5de724b4f2dbba7f0dd67a50a7d&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm Resolving-System kostenfrei Inhaltstext X:MVB http://www.dr.hut-verlag.de/978-3-8439-3429-9.html Langzeitarchivierung Nationalbibliothek kostenfrei Volltext
spellingShingle	Schmidt, Martin Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen Elektromagnetische Verträglichkeit (DE-588)4138552-4 gnd Empfindlichkeit (DE-588)4127339-4 gnd Messung (DE-588)4038852-9 gnd Nahfeld (DE-588)4312216-4 gnd
subject_GND	(DE-588)4138552-4 (DE-588)4127339-4 (DE-588)4038852-9 (DE-588)4312216-4 (DE-588)4113937-9
title	Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen
title_auth	Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen
title_exact_search	Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen
title_full	Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen vorgelegt von Martin Schmidt
title_fullStr	Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen vorgelegt von Martin Schmidt
title_full_unstemmed	Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen vorgelegt von Martin Schmidt
title_short	Methoden zur Messdatenverarbeitung und Erhöhung der Sensitivität für EMV-Nahfeldmessungen
title_sort	methoden zur messdatenverarbeitung und erhohung der sensitivitat fur emv nahfeldmessungen
topic	Elektromagnetische Verträglichkeit (DE-588)4138552-4 gnd Empfindlichkeit (DE-588)4127339-4 gnd Messung (DE-588)4038852-9 gnd Nahfeld (DE-588)4312216-4 gnd
topic_facet	Elektromagnetische Verträglichkeit Empfindlichkeit Messung Nahfeld Hochschulschrift
url	http://d-nb.info/1152438263/34 https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus4-93679 https://open.fau.de/handle/openfau/9367 http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=28e1e5de724b4f2dbba7f0dd67a50a7d&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm http://www.dr.hut-verlag.de/978-3-8439-3429-9.html
work_keys_str_mv	AT schmidtmartin methodenzurmessdatenverarbeitungunderhohungdersensitivitatfuremvnahfeldmessungen AT verlagdrhutmunchen methodenzurmessdatenverarbeitungunderhohungdersensitivitatfuremvnahfeldmessungen

Verfügbarkeit

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Volltext öffnen

MARC

Datensatz im Suchindex

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Ähnliche Einträge