Tan, C. M. (2010). Electromigration in ULSI interconnections. World Scientific.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. Hackensack, N.J: World Scientific, 2010.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. World Scientific, 2010.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.