Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Plenum Press c1998
Schriftenreihe:Methods of surface characterization v. 5
Schlagworte:
Beschreibung:xix, 430 p.
ISBN:0306458969

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!