Sayil, S. (2018). Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques. Springer International Publishing. https://doi.org/10.1007/978-3-319-69673-7
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Sayil, Selahattin. Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques. Cham: Springer International Publishing, 2018. https://doi.org/10.1007/978-3-319-69673-7.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Sayil, Selahattin. Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques. Springer International Publishing, 2018. https://doi.org/10.1007/978-3-319-69673-7.
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