Tan, C. M. (2010). Electromigration in ULSI interconnections. World Scientific Pub. Co.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. Singapore: World Scientific Pub. Co, 2010.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Tan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. World Scientific Pub. Co, 2010.
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