Rauheitsmessung: Theorie und Praxis
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| Format: | Book |
| Language: | German |
| Published: |
Berlin ; Wien ; Zürich
Beuth Verlag GmbH
2018
|
| Edition: | 3., überarbeitete Auflage |
| Series: | Beuth Praxis : DIN
|
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| Online Access: | Inhaltstext Ausführliche Beschreibung Inhaltsverzeichnis |
| Physical Description: | XII, 190 Seiten Illustrationen, Diagramme 21 cm x 14.8 cm |
| ISBN: | 9783410275497 3410275495 |
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INHALT
1 E IN FUE H RU N G
.
1
2 O B E RFLAE C H E N
.
3
2.1 FUNKTION EINER OBERFLAECHE
.
5
2.2 EINFLUSS DES
FERTIGUNGSVERFAHRENS.
5
2.3 PRUEFMITTEL FUER DIE OBERFLAECHENRAUHEIT
.
7
2.4 HERSTELLUNG VON
OBERFLAECHEN.
7
2.5 DIE OBERFLAECHE ALS KOMPLEXES GEBILDE
.
9
2.6 UNTERSCHEIDUNG VON OBERFLAECHENUNREGELMAESSIGKEITEN
.
11
3 O B E RFLAE C H E N K E N N G ROE SS E N
. IZ
3.1 BEDEUTUNG DER KENNGROESSEN
.
15
3.1.1 WICHTIGE AKTUELLE
KENNGROESSEN.
16
3.1.2 NEUE KENNGROESSEN
.
17
3.1.3 WENIGER GEBRAEUCHLICHE KENNGROESSEN
.
18
3.2 VERWECHSLUNGSGEFAHREN
.
19
3.3 UEBERSICHT UEBER DIE
KENNGROESSEN.
19
3.4
RAUHEITSKENNGROESSEN.
22
3.4.1
RA
- ARITHMETISCHER
MITTENRAUWERT.
22
3.4.2
RQ
- QUADRATISCHER
MITTENRAUWERT.
24
3.4.3
RZ
- GEMITTELTE RAUTIEFE
RMAX-
MAXIMALE RAUTIEFE
. 25
3.4.4
R3Z-
GRUND RAUTIEFE
.
27
3.4.5
RZ(ISO)
- ZEHNPUNKTEHOEHE
RY-
MAXIMALE RAUTIEFE (A
LT).
28
3.4.6
RP
- MITTLERE GLAETTUNGSTIEFE
RV-
MITTLERE RIEFENTIEFE
.
30
3.5 WELLIGKEITSKENNGROESSEN
.
32
3.5.1
W T-
WELLENTIEFE
.
32
3.5.2
WDSM
- DOMINANTE
WELLENLAENGE.
32
3.6 OBERFLAECHENKENNGROESSEN FUER DAS
GESAMTPROFIT. 37
3.6.1
PT -
PROFILTIEFE.
37
3.7 DISTANZKENNGROESSEN (HORIZONTALKENNGROESSEN)
. 38
3.7.1
RPC
- NORMIERTE SPITZENZAHL
D
- DICHTE
.
38
3.7.2
RSM
- MITTLERER RILLENABSTAND
. 42
3.8 ZUSAMMENGESETZTE KENNGROESSEN (LAENGE UND TIEFE)
.
43
3.8.1
RMR(C), PMR(C)
- MATERIALANTEIL DES PROFILS
.
43
3.8.2
RK
- KERN RAUTIEFE
RPK
- REDUZIERTE SPITZENHOEHE
RVK
- REDUZIERTE RIEFENTIEFE
MRL
- KLEINSTER MATERIALANTEIL
MR2
- GROESSTER M ATERIALANTEIL
.
45
3.8.3
RAQ
- QUADRATISCHER MITTELWERT DER PROFILSTEIGUNG
.
50
3.8.4
L0
- GESTRECKTE LAENGE DES PROFILS (NICHT GENORMT)
. 51
3.8.5
LR -
PROFILLAENGENVERHAELTNIS.
52
3.9 MOTIFKENNGROESSEN
R
- MITTLERE TIEFE DER RAUHEITSMOTIFS
RX
- MAXIMALE TIEFE DER PROFILUNREGELMAESSIGKEIT
W
- MITTLERE TIEFE DER WELLIGKEITSMOTIFS
WX
- MAXIMALE TIEFE DER WELLIGKEITSMOTIFS
AR
- MITTLERE TEILUNG DER RAUHEITSMOTIFS
AW
- MITTLERE LAENGE DER WELLIGKEITSMOTIFS
WIE
- GESAMTTIEFE DER WELLIGKEIT
. 52
3.10 STATISTISCHE
KENNGROESSEN.
54
3.10.1 DIE OBERFLAECHE AUS STATISTISCHER S ICH
T. 54
3.10.2
RSK-
SCHIEFE DES
PROFILS.
55
3.10.3
RKU
- STEILHEIT DES
PROFILS.
56
3.10.4
AKF-
DIE
AUTOKORRELATIONSFUNKTION.
56
3.10.5 FOURIER-ANALYSE (NICHT GENORMT)
.
59
3.11 DREIDIMENSIONALE ANALYSE DER OBERFLAECHE
.
60
3.11.1 DRALL-KENNGROESSEN
.
62
4 O B E RFLAE C H E N M E S S G E RAE TE
.
65
4.1 OBERFLAECHENVERGLEICHSMUSTER
.
66
4.2
TASTSCHNITTVERFAHREN.
67
4.2.1 NORMEN ZU TASTSCHNITTGERAETEN
.
67
4.2.2
TASTER.
69
4.2.3
VORSCHUBAPPARAT.
85
4.2.4
COMPUTER.
87
4.2.5 ANZEIGE
.
88
4.2.6
DOKUMENTATION.
88
4.3 BERUEHRUNGSLOSE M ESSUNG
.
90
4.3.1 WEISSLICHTSENSOR
.
90
4.3.2 ALTERNATIVE VERFAHREN
.
92
5 M E S S TE C H N IK
.
99
5.1 OBERFLAECHENMESSTECHNIK MIT DEM
TASTSCHNITTVERFAHREN.100
5.1.1 EINSTELLUNG DER
TASTSTRECKE.100
5.1.2 WAHL DER GRENZWELLENLAENGE DES FILTERS
.
102
5.1.3 FORMABWEICHUNGEN ELIMINIEREN
.
103
5.1.4 AUSRICHTEN DES
PROFILS.
104
5.2 GUETEKLASSEN
.
106
5.3 KALIBRIERUNG DER G ERAE
TE.
107
5.3.1
KALIBRIERLABORATORIEN.
110
5.4 RAUSCHEN,
SCHWINGUNGEN.112
5.4.1 GLEITKUFENTASTER
.113
5.4.2 VORSCHUBAPPARAT AN S
AEULEN.113
5.4.3 MESSTISCHE MIT SCHWINGUNGSDAEMPFUNG
.114
5.5
TEMPERATUR.
115
5.6 EINFLUSS VON Z U G LU FT
.
115
5.7 BESCHAEDIGUNGEN AM W ERKSTUECK
.
115
5.8
SAUBERKEIT.
117
5.9 EINFLUSS VON
MAGNETISMUS.118
5.10 OBERFLAECHENABDRUECKE
.
118
5.11 STATISTISCHE ANALYSE DER ERGEBNISSE
.
119
5.11.1 *16%-REGEL*
.119
5.11.2 *HOECHSTWERT-REGEL*
.
120
5.12 STATISTISCHE PROZESSKONTROLLE S R C
.
120
6 F ILT E R
.123
6.1 DIE GRENZWELLENLAENGE DES FILTERS
X C
. 124
6.2 GAUSSFILTER NACH DIN EN ISO 16610-21:2013-06
. 125
6.3 ANALOGE FILTER
(2RC-FILTER).127
6.4 SONDERFILTER NACH NORMENREIHE DIN EN ISO 13565
(RK)
.128
7 M E S S U N S IC H E RH E
IT.
131
7.1 THEORIE
.
132
7.1.1 MATHEMATISCHES M O D E
LL.133
7.1.2 FILTERFAKTOR C
.135
7.1.3 UNSICHERHEIT DER GEMITTELTEN RAUTIEFE
RZ
.136
7.2
UNSICHERHEITSBEITRAEGE.136
7.2.1 VORSCHUB UND
SCHWINGUNGSISOLIERUNG.136
7.2.2 TASTSYSTEM
.139
7.2.3 UNBEKANNTE SYSTEMATISCHE ABWEICHUNGEN
.
142
7.2.4 STREUUNG DER MESSWERTE
S(RZ)
.
143
7.3
MESSUNSICHERHEITSBUDGET.
144
8 Z E IC H N U N G S E IN TRA G U N G E N
.
147
8.1 REGELN NACH DIN EN ISO 1302:2002-08
.
148
8.1.1 SYMBOLE FUER DIE OBERFLAECHENBESCHAFFENHEIT
.
148
XI
8.1.2 OBERFLAECHENBESCHAFFENHEIT AM VOLLSTAENDIGEN SYM
BOL.149
8.1.3 BEARBEITUNGSVERFAHREN
.
151
8.1.4 UEBERTRAGUNGSCHARAKTERISTIK UND EINZELMESSSTRECKE
.
151
8.1.5
OBERFLAECHENRILLENRICHTUNG.
151
8.1.6
BEARBEITUNGSZUGABE.153
8.1.7 LAGE UND AUSRICHTUNG DER SYM BOLE
.
153
8.1.8 VEREINFACHTE ZEICHNUNGSEINTRAGUNG
.
154
8.1.9 AUSBLICK ISO 21920 - ZEICHNUNGSEINTRAGUNGEN
.
155
9 D IN -N ORM EN UND V D I-R ICH TTINIEN
.
157
9.1 TECHNISCHE OBERFLAECHEN
.
158
9.1.1
ENTWICKLUNG.
158
9.1.2 KONSTRUKTION
.
159
9.1.3
FERTIGUNG.160
9.1.4
QUALITAETSPRUEFUNG.161
9.2 WEITERENTWICKLUNG DER
NORMUNG.173
9.2.1 ISO 21920 PROFILNORM
.
173
9.2.2 NEUE
FILTERVERFAHREN.175
9.2.3 UNTERSCHIEDLICHE INTERPRETATIONEN BEIM
RMAX
UND
RZLM AX
.
175
9.3 ANLEITUNGEN ZUR ERMITTLUNG DER MESSUNSICHERHEIT
.
177
9.4 NORMEN UND RICHTLINIEN AUS ANGRENZENDEN BEREICHEN
.
178
10 L ITERATU R
.
181
10.1 ENTWICKLUNG DER
OBERFLAECHENMESSTECHNIK.182
10.2
STANDARDWERKE.
182
10.2.1 BODSCHWINNA; HILLMANN (1992)
. 182
10.2.2 WHITEHOUSE (1 9 9 4
).
183
10.2.3 THOMAS (1999)
.
183
10.2.4 LEACH (2 0 1 3
).
183
A B K UE RZU N G S V E RZE IC H N IS
.
184
S TIC H W O RTV E RZ E IC H N IS
.
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