Verfügbarkeit: Rauheitsmessung

Rauheitsmessung: Theorie und Praxis

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Volk, Raimund 1958- (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Berlin ; Wien ; Zürich Beuth Verlag GmbH 2018
Ausgabe:	3., überarbeitete Auflage
Schriftenreihe:	Beuth Praxis : DIN
Schlagworte:	Rauigkeit Rauigkeitsmessung Oberflächenphysik Oberflächenanalyse Nephelometrie Oberflächenbeschaffenheit Rauheitsmessung Tastschnittverfahren
Online-Zugang:	Inhaltstext Ausführliche Beschreibung Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:	XII, 190 Seiten Illustrationen, Diagramme 21 cm x 14.8 cm
ISBN:	9783410275497 3410275495

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adam_text	INHALT 1 E IN FUE H RU N G . 1 2 O B E RFLAE C H E N . 3 2.1 FUNKTION EINER OBERFLAECHE . 5 2.2 EINFLUSS DES FERTIGUNGSVERFAHRENS. 5 2.3 PRUEFMITTEL FUER DIE OBERFLAECHENRAUHEIT . 7 2.4 HERSTELLUNG VON OBERFLAECHEN. 7 2.5 DIE OBERFLAECHE ALS KOMPLEXES GEBILDE . 9 2.6 UNTERSCHEIDUNG VON OBERFLAECHENUNREGELMAESSIGKEITEN . 11 3 O B E RFLAE C H E N K E N N G ROE SS E N . IZ 3.1 BEDEUTUNG DER KENNGROESSEN . 15 3.1.1 WICHTIGE AKTUELLE KENNGROESSEN. 16 3.1.2 NEUE KENNGROESSEN . 17 3.1.3 WENIGER GEBRAEUCHLICHE KENNGROESSEN . 18 3.2 VERWECHSLUNGSGEFAHREN . 19 3.3 UEBERSICHT UEBER DIE KENNGROESSEN. 19 3.4 RAUHEITSKENNGROESSEN. 22 3.4.1 RA - ARITHMETISCHER MITTENRAUWERT. 22 3.4.2 RQ - QUADRATISCHER MITTENRAUWERT. 24 3.4.3 RZ - GEMITTELTE RAUTIEFE RMAX- MAXIMALE RAUTIEFE . 25 3.4.4 R3Z- GRUND RAUTIEFE . 27 3.4.5 RZ(ISO) - ZEHNPUNKTEHOEHE RY- MAXIMALE RAUTIEFE (A LT). 28 3.4.6 RP - MITTLERE GLAETTUNGSTIEFE RV- MITTLERE RIEFENTIEFE . 30 3.5 WELLIGKEITSKENNGROESSEN . 32 3.5.1 W T- WELLENTIEFE . 32 3.5.2 WDSM - DOMINANTE WELLENLAENGE. 32 3.6 OBERFLAECHENKENNGROESSEN FUER DAS GESAMTPROFIT. 37 3.6.1 PT - PROFILTIEFE. 37 3.7 DISTANZKENNGROESSEN (HORIZONTALKENNGROESSEN) . 38 3.7.1 RPC - NORMIERTE SPITZENZAHL D - DICHTE . 38 3.7.2 RSM - MITTLERER RILLENABSTAND . 42 3.8 ZUSAMMENGESETZTE KENNGROESSEN (LAENGE UND TIEFE) . 43 3.8.1 RMR(C), PMR(C) - MATERIALANTEIL DES PROFILS . 43 3.8.2 RK - KERN RAUTIEFE RPK - REDUZIERTE SPITZENHOEHE RVK - REDUZIERTE RIEFENTIEFE MRL - KLEINSTER MATERIALANTEIL MR2 - GROESSTER M ATERIALANTEIL . 45 3.8.3 RAQ - QUADRATISCHER MITTELWERT DER PROFILSTEIGUNG . 50 3.8.4 L0 - GESTRECKTE LAENGE DES PROFILS (NICHT GENORMT) . 51 3.8.5 LR - PROFILLAENGENVERHAELTNIS. 52 3.9 MOTIFKENNGROESSEN R - MITTLERE TIEFE DER RAUHEITSMOTIFS RX - MAXIMALE TIEFE DER PROFILUNREGELMAESSIGKEIT W - MITTLERE TIEFE DER WELLIGKEITSMOTIFS WX - MAXIMALE TIEFE DER WELLIGKEITSMOTIFS AR - MITTLERE TEILUNG DER RAUHEITSMOTIFS AW - MITTLERE LAENGE DER WELLIGKEITSMOTIFS WIE - GESAMTTIEFE DER WELLIGKEIT . 52 3.10 STATISTISCHE KENNGROESSEN. 54 3.10.1 DIE OBERFLAECHE AUS STATISTISCHER S ICH T. 54 3.10.2 RSK- SCHIEFE DES PROFILS. 55 3.10.3 RKU - STEILHEIT DES PROFILS. 56 3.10.4 AKF- DIE AUTOKORRELATIONSFUNKTION. 56 3.10.5 FOURIER-ANALYSE (NICHT GENORMT) . 59 3.11 DREIDIMENSIONALE ANALYSE DER OBERFLAECHE . 60 3.11.1 DRALL-KENNGROESSEN . 62 4 O B E RFLAE C H E N M E S S G E RAE TE . 65 4.1 OBERFLAECHENVERGLEICHSMUSTER . 66 4.2 TASTSCHNITTVERFAHREN. 67 4.2.1 NORMEN ZU TASTSCHNITTGERAETEN . 67 4.2.2 TASTER. 69 4.2.3 VORSCHUBAPPARAT. 85 4.2.4 COMPUTER. 87 4.2.5 ANZEIGE . 88 4.2.6 DOKUMENTATION. 88 4.3 BERUEHRUNGSLOSE M ESSUNG . 90 4.3.1 WEISSLICHTSENSOR . 90 4.3.2 ALTERNATIVE VERFAHREN . 92 5 M E S S TE C H N IK . 99 5.1 OBERFLAECHENMESSTECHNIK MIT DEM TASTSCHNITTVERFAHREN.100 5.1.1 EINSTELLUNG DER TASTSTRECKE.100 5.1.2 WAHL DER GRENZWELLENLAENGE DES FILTERS . 102 5.1.3 FORMABWEICHUNGEN ELIMINIEREN . 103 5.1.4 AUSRICHTEN DES PROFILS. 104 5.2 GUETEKLASSEN . 106 5.3 KALIBRIERUNG DER G ERAE TE. 107 5.3.1 KALIBRIERLABORATORIEN. 110 5.4 RAUSCHEN, SCHWINGUNGEN.112 5.4.1 GLEITKUFENTASTER .113 5.4.2 VORSCHUBAPPARAT AN S AEULEN.113 5.4.3 MESSTISCHE MIT SCHWINGUNGSDAEMPFUNG .114 5.5 TEMPERATUR. 115 5.6 EINFLUSS VON Z U G LU FT . 115 5.7 BESCHAEDIGUNGEN AM W ERKSTUECK . 115 5.8 SAUBERKEIT. 117 5.9 EINFLUSS VON MAGNETISMUS.118 5.10 OBERFLAECHENABDRUECKE . 118 5.11 STATISTISCHE ANALYSE DER ERGEBNISSE . 119 5.11.1 16%-REGEL .119 5.11.2 HOECHSTWERT-REGEL . 120 5.12 STATISTISCHE PROZESSKONTROLLE S R C . 120 6 F ILT E R .123 6.1 DIE GRENZWELLENLAENGE DES FILTERS X C . 124 6.2 GAUSSFILTER NACH DIN EN ISO 16610-21:2013-06 . 125 6.3 ANALOGE FILTER (2RC-FILTER).127 6.4 SONDERFILTER NACH NORMENREIHE DIN EN ISO 13565 (RK) .128 7 M E S S U N S IC H E RH E IT. 131 7.1 THEORIE . 132 7.1.1 MATHEMATISCHES M O D E LL.133 7.1.2 FILTERFAKTOR C .135 7.1.3 UNSICHERHEIT DER GEMITTELTEN RAUTIEFE RZ .136 7.2 UNSICHERHEITSBEITRAEGE.136 7.2.1 VORSCHUB UND SCHWINGUNGSISOLIERUNG.136 7.2.2 TASTSYSTEM .139 7.2.3 UNBEKANNTE SYSTEMATISCHE ABWEICHUNGEN . 142 7.2.4 STREUUNG DER MESSWERTE S(RZ) . 143 7.3 MESSUNSICHERHEITSBUDGET. 144 8 Z E IC H N U N G S E IN TRA G U N G E N . 147 8.1 REGELN NACH DIN EN ISO 1302:2002-08 . 148 8.1.1 SYMBOLE FUER DIE OBERFLAECHENBESCHAFFENHEIT . 148 XI 8.1.2 OBERFLAECHENBESCHAFFENHEIT AM VOLLSTAENDIGEN SYM BOL.149 8.1.3 BEARBEITUNGSVERFAHREN . 151 8.1.4 UEBERTRAGUNGSCHARAKTERISTIK UND EINZELMESSSTRECKE . 151 8.1.5 OBERFLAECHENRILLENRICHTUNG. 151 8.1.6 BEARBEITUNGSZUGABE.153 8.1.7 LAGE UND AUSRICHTUNG DER SYM BOLE . 153 8.1.8 VEREINFACHTE ZEICHNUNGSEINTRAGUNG . 154 8.1.9 AUSBLICK ISO 21920 - ZEICHNUNGSEINTRAGUNGEN . 155 9 D IN -N ORM EN UND V D I-R ICH TTINIEN . 157 9.1 TECHNISCHE OBERFLAECHEN . 158 9.1.1 ENTWICKLUNG. 158 9.1.2 KONSTRUKTION . 159 9.1.3 FERTIGUNG.160 9.1.4 QUALITAETSPRUEFUNG.161 9.2 WEITERENTWICKLUNG DER NORMUNG.173 9.2.1 ISO 21920 PROFILNORM . 173 9.2.2 NEUE FILTERVERFAHREN.175 9.2.3 UNTERSCHIEDLICHE INTERPRETATIONEN BEIM RMAX UND RZLM AX . 175 9.3 ANLEITUNGEN ZUR ERMITTLUNG DER MESSUNSICHERHEIT . 177 9.4 NORMEN UND RICHTLINIEN AUS ANGRENZENDEN BEREICHEN . 178 10 L ITERATU R . 181 10.1 ENTWICKLUNG DER OBERFLAECHENMESSTECHNIK.182 10.2 STANDARDWERKE. 182 10.2.1 BODSCHWINNA; HILLMANN (1992) . 182 10.2.2 WHITEHOUSE (1 9 9 4 ). 183 10.2.3 THOMAS (1999) . 183 10.2.4 LEACH (2 0 1 3 ). 183 A B K UE RZU N G S V E RZE IC H N IS . 184 S TIC H W O RTV E RZ E IC H N IS . 188
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THWS Schweinfurt Zentralbibliothek Lesesaal

Bestandesangaben von THWS Schweinfurt Zentralbibliothek Lesesaal
Signatur:	2000 ZQ 3720 V916(3)
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