APA (7th ed.) Citation

Tobisch, A. (2017). Telezentrische Deflektometrie zur Nanotopographiemessung von Halbleiterscheiben.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Tobisch, Alexander. Telezentrische Deflektometrie Zur Nanotopographiemessung Von Halbleiterscheiben. Erlangen ; Nürnberg, 2017.

MLA (9th ed.) Citation

Tobisch, Alexander. Telezentrische Deflektometrie Zur Nanotopographiemessung Von Halbleiterscheiben. 2017.

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