Zuverlässigkeit und Entwurf: 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus
Gespeichert in:
Körperschaft: | |
---|---|
Format: | Elektronisch Tagungsbericht Software E-Book |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Berlin
VDE Verlag GmbH
2017
|
Schriftenreihe: | ITG-Fachbericht
274 |
Schlagworte: | |
Beschreibung: | 1 CD-ROM 12 cm |
ISBN: | 9783800744442 |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nmm a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV044539258 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 20210505 | ||
006 | a |||| 10||| | ||
007 | co|uuu---uuuuu | ||
008 | 171016s2017 |||| q||u| ||||||ger d | ||
020 | |a 9783800744442 |9 978-3-8007-4444-2 | ||
035 | |a (OCoLC)1011392113 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV044539258 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rda | ||
041 | 0 | |a ger | |
049 | |a DE-83 |a DE-706 |a DE-634 | ||
084 | |a ZN 4040 |0 (DE-625)157343: |2 rvk | ||
111 | 2 | |a ZuE |d 2017 |c Cottbus |j Verfasser |0 (DE-588)1140664441 |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Zuverlässigkeit und Entwurf |b 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus |c Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG), Gesellschaft für Informatik (GI), VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM) |
264 | 1 | |a Berlin |b VDE Verlag GmbH |c 2017 | |
300 | |a 1 CD-ROM |c 12 cm | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b c |2 rdamedia | ||
338 | |b cd |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a ITG-Fachbericht |v 274 | |
650 | 0 | 7 | |a Zuverlässigkeit |0 (DE-588)4059245-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Eingebettetes System |0 (DE-588)4396978-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Fehlermodell |0 (DE-588)4380447-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Entwurfsautomation |0 (DE-588)4312536-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Funktionssicherheit |0 (DE-588)4760707-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)1071861417 |a Konferenzschrift |2 gnd-content | |
655 | 7 | |0 (DE-588)4139307-7 |a CD-ROM |2 gnd-carrier | |
689 | 0 | 0 | |a Entwurfsautomation |0 (DE-588)4312536-0 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Eingebettetes System |0 (DE-588)4396978-1 |D s |
689 | 0 | 2 | |a Funktionssicherheit |0 (DE-588)4760707-5 |D s |
689 | 0 | 3 | |a Fehlermodell |0 (DE-588)4380447-0 |D s |
689 | 0 | 4 | |a Zuverlässigkeit |0 (DE-588)4059245-5 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
710 | 2 | |a Informationstechnische Gesellschaft |0 (DE-588)2090359-5 |4 oth | |
830 | 0 | |a ITG-Fachbericht |v 274 |w (DE-604)BV001897708 |9 274 | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-029938373 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804177896559869952 |
---|---|
any_adam_object | |
author_corporate | ZuE Cottbus |
author_corporate_role | aut |
author_facet | ZuE Cottbus |
author_sort | ZuE Cottbus |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV044539258 |
classification_rvk | ZN 4040 |
ctrlnum | (OCoLC)1011392113 (DE-599)BVBBV044539258 |
discipline | Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
format | Electronic Conference Proceeding Software eBook |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01970nmm a2200469 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV044539258</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20210505 </controlfield><controlfield tag="006">a |||| 10||| </controlfield><controlfield tag="007">co|uuu---uuuuu</controlfield><controlfield tag="008">171016s2017 |||| q||u| ||||||ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783800744442</subfield><subfield code="9">978-3-8007-4444-2</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)1011392113</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV044539258</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rda</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield><subfield code="a">DE-634</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4040</subfield><subfield code="0">(DE-625)157343:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="111" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">ZuE</subfield><subfield code="d">2017</subfield><subfield code="c">Cottbus</subfield><subfield code="j">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)1140664441</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Zuverlässigkeit und Entwurf</subfield><subfield code="b">9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus</subfield><subfield code="c">Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG), Gesellschaft für Informatik (GI), VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM)</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Berlin</subfield><subfield code="b">VDE Verlag GmbH</subfield><subfield code="c">2017</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1 CD-ROM</subfield><subfield code="c">12 cm</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">c</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">cd</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">ITG-Fachbericht</subfield><subfield code="v">274</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Zuverlässigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059245-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Eingebettetes System</subfield><subfield code="0">(DE-588)4396978-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehlermodell</subfield><subfield code="0">(DE-588)4380447-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Entwurfsautomation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312536-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Funktionssicherheit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4760707-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)1071861417</subfield><subfield code="a">Konferenzschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4139307-7</subfield><subfield code="a">CD-ROM</subfield><subfield code="2">gnd-carrier</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Entwurfsautomation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312536-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Eingebettetes System</subfield><subfield code="0">(DE-588)4396978-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Funktionssicherheit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4760707-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="3"><subfield code="a">Fehlermodell</subfield><subfield code="0">(DE-588)4380447-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="4"><subfield code="a">Zuverlässigkeit</subfield><subfield code="0">(DE-588)4059245-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Informationstechnische Gesellschaft</subfield><subfield code="0">(DE-588)2090359-5</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">ITG-Fachbericht</subfield><subfield code="v">274</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV001897708</subfield><subfield code="9">274</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-029938373</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)1071861417 Konferenzschrift gnd-content (DE-588)4139307-7 CD-ROM gnd-carrier |
genre_facet | Konferenzschrift CD-ROM |
id | DE-604.BV044539258 |
illustrated | Not Illustrated |
indexdate | 2024-07-10T07:55:22Z |
institution | BVB |
institution_GND | (DE-588)1140664441 (DE-588)2090359-5 |
isbn | 9783800744442 |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-029938373 |
oclc_num | 1011392113 |
open_access_boolean | |
owner | DE-83 DE-706 DE-634 |
owner_facet | DE-83 DE-706 DE-634 |
physical | 1 CD-ROM 12 cm |
publishDate | 2017 |
publishDateSearch | 2017 |
publishDateSort | 2017 |
publisher | VDE Verlag GmbH |
record_format | marc |
series | ITG-Fachbericht |
series2 | ITG-Fachbericht |
spelling | ZuE 2017 Cottbus Verfasser (DE-588)1140664441 aut Zuverlässigkeit und Entwurf 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG), Gesellschaft für Informatik (GI), VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM) Berlin VDE Verlag GmbH 2017 1 CD-ROM 12 cm txt rdacontent c rdamedia cd rdacarrier ITG-Fachbericht 274 Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd rswk-swf Eingebettetes System (DE-588)4396978-1 gnd rswk-swf Fehlermodell (DE-588)4380447-0 gnd rswk-swf Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 gnd rswk-swf Funktionssicherheit (DE-588)4760707-5 gnd rswk-swf (DE-588)1071861417 Konferenzschrift gnd-content (DE-588)4139307-7 CD-ROM gnd-carrier Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 s Eingebettetes System (DE-588)4396978-1 s Funktionssicherheit (DE-588)4760707-5 s Fehlermodell (DE-588)4380447-0 s Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 s DE-604 Informationstechnische Gesellschaft (DE-588)2090359-5 oth ITG-Fachbericht 274 (DE-604)BV001897708 274 |
spellingShingle | Zuverlässigkeit und Entwurf 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus ITG-Fachbericht Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd Eingebettetes System (DE-588)4396978-1 gnd Fehlermodell (DE-588)4380447-0 gnd Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 gnd Funktionssicherheit (DE-588)4760707-5 gnd |
subject_GND | (DE-588)4059245-5 (DE-588)4396978-1 (DE-588)4380447-0 (DE-588)4312536-0 (DE-588)4760707-5 (DE-588)1071861417 (DE-588)4139307-7 |
title | Zuverlässigkeit und Entwurf 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus |
title_auth | Zuverlässigkeit und Entwurf 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus |
title_exact_search | Zuverlässigkeit und Entwurf 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus |
title_full | Zuverlässigkeit und Entwurf 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG), Gesellschaft für Informatik (GI), VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM) |
title_fullStr | Zuverlässigkeit und Entwurf 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG), Gesellschaft für Informatik (GI), VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM) |
title_full_unstemmed | Zuverlässigkeit und Entwurf 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG), Gesellschaft für Informatik (GI), VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM) |
title_short | Zuverlässigkeit und Entwurf |
title_sort | zuverlassigkeit und entwurf 9 itg gmm gi fachtagung 18 20 september 2017 in cottbus |
title_sub | 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung, 18.-20. September 2017 in Cottbus |
topic | Zuverlässigkeit (DE-588)4059245-5 gnd Eingebettetes System (DE-588)4396978-1 gnd Fehlermodell (DE-588)4380447-0 gnd Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 gnd Funktionssicherheit (DE-588)4760707-5 gnd |
topic_facet | Zuverlässigkeit Eingebettetes System Fehlermodell Entwurfsautomation Funktionssicherheit Konferenzschrift CD-ROM |
volume_link | (DE-604)BV001897708 |
work_keys_str_mv | AT zuecottbus zuverlassigkeitundentwurf9itggmmgifachtagung1820september2017incottbus AT informationstechnischegesellschaft zuverlassigkeitundentwurf9itggmmgifachtagung1820september2017incottbus |