Size effects in thin films:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Tellier, C. R., (Colette R.) (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam Elsevier 1982
Schriftenreihe:Thin films science and technology 2
Schlagworte:
Online-Zugang:FAW01
URL des Erstveröffentlichers
Beschreibung:Includes bibliographical references and indexes
A complete and comprehensive study of transport phenomena in thin continuous metal films, this book reviews work carried out on external-surface and grain-boundary electron scattering and proposes new theoretical equations for transport properties of these films. It presents a complete theoretical view of the field, and considers imperfection and impurity effects.<br><br>
Beschreibung:ix, 310 pages
ISBN:9781483289762
1483289761
0444421068
9780444421067
0444419039
9780444419033

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