Electron-beam-induced nanometer-scale deposition:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam Elsevier Academic Press ©2006
Schriftenreihe:Advances in imaging and electron physics v. 143
Schlagworte:
Online-Zugang:FAW01
URL des Erstveröffentlichers
Beschreibung:Includes bibliographical references (pages 219-235) and index
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials-Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains
Beschreibung:xv, 247 pages
ISBN:9780080465357
0080465358
0120147858
9780120147854

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