Applied measurement with jMetrik:
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Meyer, J. Patrick (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY Routledge/Taylor and Francis Group 2014
Schlagworte:
Beschreibung:Description based on online resource; title from resource home page (ebrary, viewed December 14, 2015)
Beschreibung:1 online resource (xviii, 149 pages) illustrations
ISBN:9781136294174
1136294171
1306874785
9781306874786

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