Terrestrial neutron-induced soft errors in advanced memory devices:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Hackensack, NJ World Scientific c2008
Schlagworte:
Beschreibung:Includes bibliographical references (p. 291-315) and index
Beschreibung:xxii, 343 p.
ISBN:9789812778819
9812778810

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