World class reliability: using Multiple Environment Overstress Tests to make it happen
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bhote, Keki R. 1925- (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York American Management Association 2004
Schlagworte:
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:xix, 218 p
ISBN:0814407927

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