Advanced transmission electron microscopy: imaging and diffraction in nanoscience
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Zuo, Jian Min (VerfasserIn), Spence, John C. H. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Springer [2017]
Schlagworte:
Beschreibung:xxvi, 729 Seiten Illustrationen, Diagramme (teilweise farbig)
ISBN:9781493966059

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