Zhang, W., Chou, X., Shi, T., Ma, Z., Bao, H., & Chen, J. (2017). Measurement technology for micro-nanometer devices. Wiley.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Zhang, Wendong, Xiujian Chou, Tielin Shi, Zongmin Ma, Haifei Bao, und Jing Chen. Measurement Technology for Micro-nanometer Devices. Singapore: Wiley, 2017.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Zhang, Wendong, et al. Measurement Technology for Micro-nanometer Devices. Wiley, 2017.
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