Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Seebauer, Edmund G. (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: London Springer London 2009
Schriftenreihe:Engineering Materials and Processes
Schlagworte:
Online-Zugang:TUM01
Volltext
Beschreibung:1 Online-Ressource (XIV, 298 p)
ISBN:9781848820593
ISSN:1619-0181
DOI:10.1007/978-1-84882-059-3

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