Inverse image modeling for defect detection and optical system characterization: = Inverse Abbildungsmodelle für die Defektdetektion und die Charakterisierung optischer Systeme
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Xu, Dongbo (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Erlangen ; Nürnberg 2016
Schlagworte:
Online-Zugang:kostenfrei
kostenfrei
kostenfrei
Beschreibung:1 Online-Ressource
Format:Langzeitarchivierung gewährleistet, LZA

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Volltext öffnen