Measurement technology and its application III: selected, peer reviewed papers from the 2014 3rd International Conference on Measurement, Instrumentation and Automation (ICMIA 2014), April 23-24, 2014, Shanghai, China = ICMIA 2014
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Conference on Measurement, Instrumentation and Automation Schanghai (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Yarlagadda, Prasad (HerausgeberIn), Kim, Yun-Hae (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch Tagungsbericht E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Zurich, Switzerland Trans Tech Publications [2014]
Schriftenreihe:Applied mechanics and materials 568/570
Schlagworte:
Online-Zugang:FAW01
FAW02
Beschreibung:Online resource; title from PDF title page (ebrary, viewed July 22, 2014)
Beschreibung:1 online resource (2012 pages) illustrations (some color), graphs, tables
ISBN:9783038265214
3038265217
9783038351382

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