Intelligent testing with the WISC-V:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Kaufman, Alan S. (VerfasserIn), Raiford, Susan Engi (VerfasserIn), Coalson, Diane L. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Hoboken Wiley 2016
Ausgabe:First edition
Beschreibung:xviii, 814 Seiten
ISBN:9781118589236

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