Birkholz, M., Fewster, P. F., & Genzel, C. (2006). Thin film analysis by X-ray scattering. Wiley-VCH.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Birkholz, Mario, Paul F. Fewster, und Christoph Genzel. Thin Film Analysis by X-ray Scattering. Weinheim: Wiley-VCH, 2006.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Birkholz, Mario, et al. Thin Film Analysis by X-ray Scattering. Wiley-VCH, 2006.
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