APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Cattaneo, A. (2015). A physically based reliability modelling framework for nm-CMOS RF devices and circuits undergoing RF stress: = Physikalisch-basierte Zuverlässigkeitsmodellierung von nm-CMOS-Bauelementen und -Schaltungen unter HF-Stress (1. Auflage.). Verlag Dr. Hut.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Cattaneo, Andrea. A Physically Based Reliability Modelling Framework for Nm-CMOS RF Devices and Circuits Undergoing RF Stress: = Physikalisch-basierte Zuverlässigkeitsmodellierung Von Nm-CMOS-Bauelementen Und -Schaltungen Unter HF-Stress. 1. Auflage. München: Verlag Dr. Hut, 2015.

MLA-Zitierstil (9. Ausg.)

Cattaneo, Andrea. A Physically Based Reliability Modelling Framework for Nm-CMOS RF Devices and Circuits Undergoing RF Stress: = Physikalisch-basierte Zuverlässigkeitsmodellierung Von Nm-CMOS-Bauelementen Und -Schaltungen Unter HF-Stress. 1. Auflage. Verlag Dr. Hut, 2015.