Fundamentals of atomic force microscopy:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Reifenberger, Ronald G. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Singapore World Scientific 2015
Schriftenreihe:Lessons from nanoscience
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis

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