Focused electron beam induced processing: from fundamentals towards applications:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin [u.a.] Springer 2014
Schriftenreihe:Applied physics : A, Materials science : processing 117,4: Special issue
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufnahme eines Zs.-Heftes
Beschreibung:S. 1599-2294 Ill., graph. Darst.

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand!