Reliability and failure of electronic materials and devices:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Ohring, Milton (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: London, UK Academic Press [2016]
Ausgabe:Second edition
Schlagworte:
Online-Zugang:BTU01
Volltext
Volltext
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:1 Online-Ressource (1 volume (unpaged))
ISBN:9780080575520
0080575528
9780120885749

Es ist kein Print-Exemplar vorhanden.

Fernleihe Bestellen Achtung: Nicht im THWS-Bestand! Volltext öffnen