Theorie und Praxis der Röntgenstrukturanalyse: Eine Einführung für Naturwissenschaftler
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Bibliographic Details
Main Author: Wölfel, Erich R. (Author)
Format: Electronic eBook
Language:German
Published: Wiesbaden Vieweg+Teubner Verlag 1975
Subjects:
Online Access:FLA01
Volltext
Item Description:Dieses Buch verfolgt das Ziel, Naturwissenschaftler mit mög­ lichst geringem Zeitaufwand in die röntgenographische Kri­ stallstrukturanalyse einzufUhren. Ein gro~er Teil des hier behandelten Stoffes ist seit einigen Jahren Gegenstand einer zweistUndigen Vorlesung, die an der Technischen Hochschule Darmstadt fUr Chemie- und Physikstudenten höherer Semester regelmä~ig angeboten wird. In den hiermit verbundenen zwei­ stUndigen Ubungen werden die Kursteilnehmer mit der Präparie­ rung und der Vermessung von Kristallen, den wichtigsten Auf­ nahmeverfahren sowie mit der Bedienung automatischer Diffrak­ tometer vertraut gemacht. Im Rahmen der Vorlesung werden au~erdem drei vollständige Kristallstrukturanalysen ausführ­ lich besprochen, urn die behandelten theoretischen Grundlagen an praktischen Beispielen zu erläutern. Entsprechend diesem Plan ist der Stoff des Buches angeordnet. Die theoretischen Grundlagen umfassen die Gebiete Kristallo­ graphie und Röntgenphysik sowie die wellenkinematische St reu­ theorie mit einer gründlichen Einführung in das Konzept des reziproken Gitters. Die Abschnitte 111 f) und 111 i) bringen die Ableitungen der Interferenzfunktion, der Lorentz-Faktoren sowie des Debye-Waller'schen Temperaturfaktors und können bei der ersten Lektüre des Buches zunächst Ubergangen werden. Der absichtlich sehr ausfUhrlich gehaltene apparative Teil (Kapitel IV) umfa~t die heute in der Praxis wichtigen Film­ aufnahmeverfahren, die mit Hilfe der Ewald'schen KonsVruktion ausführlich erläutert werden, und die Beschreibung der derzeit benutzten automatischen Diffraktometer anhand von Beispielen, so da~ sich auch der Anfänger mit diesen Methoden vertraut machen kann
Physical Description:1 Online-Ressource
ISBN:9783663068280
9783528083496
DOI:10.1007/978-3-663-06828-0

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