Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Wiesbaden
VS Verlag für Sozialwissenschaften
1978
|
| Schriftenreihe: | Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen, Nr. 2784/Fachgruppe Physik/Chemie/Biologie
2784 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | FLA01 Volltext |
| Beschreibung: | Die physikalischen und chemischen Eigenschaften einer Fest körperoberfläche werden von ihrer Zusammensetzung im Bereich der obersten Atomlagen bestimmt. Eine möglichst genaue Kennt nis der chemischen Zusammensetzung der Festkörperoberfläche ist Voraussetzung für das Verständnis vieler technisch wich tiger Bereiche wie z. B. Katalyse, Korrosion und Dünnschicht technik. Ein Verfahren zur Oberflächenanalyse, das eine um fassende Information über diese Eigenschaften liefert, sollte daher folgende Forderungen erfüllen: 1. Anwendbarkeit auf beliebige Proben 2. Informationstiefe im Bereich einer Monolage 3. Nachweis von Elementen und Verbindungen 4. Trennung von Isotopen 5. Hohe Empfindlichkeit 6. Hohes Auflösungsvermögen 7. Keine Diskriminierung bestimmter Komponenten 8. Keine Beinflussung der Oberfläche durch den Analysenvorgang selbst Kein Verfahren zur Oberflächenanalyse kann alle diese Forderunger erfüllen. Im Vergleich zu anderen Verfahren wie z. B. der Auger Elektronen-Spektroskopie (AES) (1), der Photoelektronen-Spektros kopie (ESCA) (2,3) oder der Ionenrückstreuung (ISS) (4) besitzt die Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) (5-8) jedoch folgende Vorteile: 1. Direkter Nachweis von chemischen Verbindungen, 2. Nachweis von Wasserstoff und seinen Verbindungen, 3. Trennung von Isotopen, 4. Hohe Empfindlichkeit für viele Elemente und Verbindungen. Damit ist das SIMS-Verfahren insbesondere zur Untersuchung von monomolekularen Oberflächenschichten und Oberflächenreaktionen sowie zur Spurenanalyse geeignet. Ein wichtiger Nachteil des - 2 - Verfahrens ist jedoch die für die einzelnen Elemente und Verbindungen um Größenordnungen verschiedene Nachweis empfindlichkeit, die zudem nicht nur von dem betreffenden Element bzw. der Verbindung selbst, sondern auch von dessen Umgebung, der "Matrix", abhängt |
| Beschreibung: | 1 Online-Ressource (III, 45 S.) |
| ISBN: | 9783322881267 9783531027845 |
| DOI: | 10.1007/978-3-322-88126-7 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nmm a2200000zcb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV042458014 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | cr|uuu---uuuuu | ||
| 008 | 150325s1978 |||| o||u| ||||||ger d | ||
| 020 | |a 9783322881267 |c Online |9 978-3-322-88126-7 | ||
| 020 | |a 9783531027845 |c Print |9 978-3-531-02784-5 | ||
| 024 | 7 | |a 10.1007/978-3-322-88126-7 |2 doi | |
| 035 | |a (OCoLC)915601613 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV042458014 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e aacr | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-634 |a DE-188 |a DE-860 |a DE-706 | ||
| 082 | 0 | |a 50 |2 23 | |
| 100 | 1 | |a Benninghoven, Alfred |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle |c von Alfred Benninghoven, Lothar Wiedmann |
| 264 | 1 | |a Wiesbaden |b VS Verlag für Sozialwissenschaften |c 1978 | |
| 300 | |a 1 Online-Ressource (III, 45 S.) | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b c |2 rdamedia | ||
| 338 | |b cr |2 rdacarrier | ||
| 490 | 0 | |a Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen, Nr. 2784/Fachgruppe Physik/Chemie/Biologie |v 2784 | |
| 500 | |a Die physikalischen und chemischen Eigenschaften einer Fest körperoberfläche werden von ihrer Zusammensetzung im Bereich der obersten Atomlagen bestimmt. Eine möglichst genaue Kennt nis der chemischen Zusammensetzung der Festkörperoberfläche ist Voraussetzung für das Verständnis vieler technisch wich tiger Bereiche wie z. B. Katalyse, Korrosion und Dünnschicht technik. Ein Verfahren zur Oberflächenanalyse, das eine um fassende Information über diese Eigenschaften liefert, sollte daher folgende Forderungen erfüllen: 1. Anwendbarkeit auf beliebige Proben 2. Informationstiefe im Bereich einer Monolage 3. Nachweis von Elementen und Verbindungen 4. Trennung von Isotopen 5. Hohe Empfindlichkeit 6. Hohes Auflösungsvermögen 7. Keine Diskriminierung bestimmter Komponenten 8. Keine Beinflussung der Oberfläche durch den Analysenvorgang selbst Kein Verfahren zur Oberflächenanalyse kann alle diese Forderunger erfüllen. Im Vergleich zu anderen Verfahren wie z. B. der Auger Elektronen-Spektroskopie (AES) (1), der Photoelektronen-Spektros kopie (ESCA) (2,3) oder der Ionenrückstreuung (ISS) (4) besitzt die Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) (5-8) jedoch folgende Vorteile: 1. Direkter Nachweis von chemischen Verbindungen, 2. Nachweis von Wasserstoff und seinen Verbindungen, 3. Trennung von Isotopen, 4. Hohe Empfindlichkeit für viele Elemente und Verbindungen. Damit ist das SIMS-Verfahren insbesondere zur Untersuchung von monomolekularen Oberflächenschichten und Oberflächenreaktionen sowie zur Spurenanalyse geeignet. Ein wichtiger Nachteil des - 2 - Verfahrens ist jedoch die für die einzelnen Elemente und Verbindungen um Größenordnungen verschiedene Nachweis empfindlichkeit, die zudem nicht nur von dem betreffenden Element bzw. der Verbindung selbst, sondern auch von dessen Umgebung, der "Matrix", abhängt | ||
| 650 | 4 | |a Science (General) | |
| 650 | 4 | |a Science, general | |
| 650 | 4 | |a Naturwissenschaft | |
| 650 | 0 | 7 | |a Oberflächenphysik |0 (DE-588)4134881-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Sekundärion |0 (DE-588)4180798-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Metalloberfläche |0 (DE-588)4169612-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Metall |0 (DE-588)4038860-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Physik |0 (DE-588)4045956-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Sekundärionen-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4077346-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 689 | 0 | 0 | |a Metalloberfläche |0 (DE-588)4169612-8 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Sekundärionen-Massenspektrometrie |0 (DE-588)4077346-2 |D s |
| 689 | 0 | |8 1\p |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Sekundärion |0 (DE-588)4180798-4 |D s |
| 689 | 1 | |8 2\p |5 DE-604 | |
| 689 | 2 | 0 | |a Physik |0 (DE-588)4045956-1 |D s |
| 689 | 2 | |8 3\p |5 DE-604 | |
| 689 | 3 | 0 | |a Metall |0 (DE-588)4038860-8 |D s |
| 689 | 3 | |8 4\p |5 DE-604 | |
| 689 | 4 | 0 | |a Oberflächenphysik |0 (DE-588)4134881-3 |D s |
| 689 | 4 | |8 5\p |5 DE-604 | |
| 700 | 1 | |a Wiedmann, Lothar |e Sonstige |4 oth | |
| 856 | 4 | 0 | |u https://doi.org/10.1007/978-3-322-88126-7 |x Verlag |3 Volltext |
| 912 | |a ZDB-2-SGR |a ZDB-2-BAD | ||
| 940 | 1 | |q ZDB-2-SGR_Archive | |
| 940 | 1 | |q ZDB-2-SGR_1815/1989 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027893221 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 2\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 3\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 4\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 5\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 966 | e | |u https://doi.org/10.1007/978-3-322-88126-7 |l FLA01 |p ZDB-2-SGR |x Verlag |3 Volltext | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804153167220310016 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Benninghoven, Alfred |
| author_facet | Benninghoven, Alfred |
| author_role | aut |
| author_sort | Benninghoven, Alfred |
| author_variant | a b ab |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV042458014 |
| collection | ZDB-2-SGR ZDB-2-BAD |
| ctrlnum | (OCoLC)915601613 (DE-599)BVBBV042458014 |
| dewey-full | 50 |
| dewey-hundreds | 000 - Computer science, information, general works |
| dewey-ones | 050 - General serial publications |
| dewey-raw | 50 |
| dewey-search | 50 |
| dewey-sort | 250 |
| dewey-tens | 050 - General serial publications |
| discipline | Allgemeine Naturwissenschaft |
| doi_str_mv | 10.1007/978-3-322-88126-7 |
| format | Electronic eBook |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>04704nmm a2200685zcb4500</leader><controlfield tag="001">BV042458014</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">cr|uuu---uuuuu</controlfield><controlfield tag="008">150325s1978 |||| o||u| ||||||ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783322881267</subfield><subfield code="c">Online</subfield><subfield code="9">978-3-322-88126-7</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783531027845</subfield><subfield code="c">Print</subfield><subfield code="9">978-3-531-02784-5</subfield></datafield><datafield tag="024" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">10.1007/978-3-322-88126-7</subfield><subfield code="2">doi</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)915601613</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV042458014</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">aacr</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-634</subfield><subfield code="a">DE-188</subfield><subfield code="a">DE-860</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">50</subfield><subfield code="2">23</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Benninghoven, Alfred</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle</subfield><subfield code="c">von Alfred Benninghoven, Lothar Wiedmann</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Wiesbaden</subfield><subfield code="b">VS Verlag für Sozialwissenschaften</subfield><subfield code="c">1978</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1 Online-Ressource (III, 45 S.)</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">c</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">cr</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen, Nr. 2784/Fachgruppe Physik/Chemie/Biologie</subfield><subfield code="v">2784</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Die physikalischen und chemischen Eigenschaften einer Fest körperoberfläche werden von ihrer Zusammensetzung im Bereich der obersten Atomlagen bestimmt. Eine möglichst genaue Kennt nis der chemischen Zusammensetzung der Festkörperoberfläche ist Voraussetzung für das Verständnis vieler technisch wich tiger Bereiche wie z. B. Katalyse, Korrosion und Dünnschicht technik. Ein Verfahren zur Oberflächenanalyse, das eine um fassende Information über diese Eigenschaften liefert, sollte daher folgende Forderungen erfüllen: 1. Anwendbarkeit auf beliebige Proben 2. Informationstiefe im Bereich einer Monolage 3. Nachweis von Elementen und Verbindungen 4. Trennung von Isotopen 5. Hohe Empfindlichkeit 6. Hohes Auflösungsvermögen 7. Keine Diskriminierung bestimmter Komponenten 8. Keine Beinflussung der Oberfläche durch den Analysenvorgang selbst Kein Verfahren zur Oberflächenanalyse kann alle diese Forderunger erfüllen. Im Vergleich zu anderen Verfahren wie z. B. der Auger Elektronen-Spektroskopie (AES) (1), der Photoelektronen-Spektros kopie (ESCA) (2,3) oder der Ionenrückstreuung (ISS) (4) besitzt die Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) (5-8) jedoch folgende Vorteile: 1. Direkter Nachweis von chemischen Verbindungen, 2. Nachweis von Wasserstoff und seinen Verbindungen, 3. Trennung von Isotopen, 4. Hohe Empfindlichkeit für viele Elemente und Verbindungen. Damit ist das SIMS-Verfahren insbesondere zur Untersuchung von monomolekularen Oberflächenschichten und Oberflächenreaktionen sowie zur Spurenanalyse geeignet. Ein wichtiger Nachteil des - 2 - Verfahrens ist jedoch die für die einzelnen Elemente und Verbindungen um Größenordnungen verschiedene Nachweis empfindlichkeit, die zudem nicht nur von dem betreffenden Element bzw. der Verbindung selbst, sondern auch von dessen Umgebung, der "Matrix", abhängt</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Science (General)</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Science, general</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Naturwissenschaft</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Oberflächenphysik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4134881-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Sekundärion</subfield><subfield code="0">(DE-588)4180798-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Metalloberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4169612-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Metall</subfield><subfield code="0">(DE-588)4038860-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Physik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4045956-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Sekundärionen-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077346-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Metalloberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4169612-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Sekundärionen-Massenspektrometrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4077346-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Sekundärion</subfield><subfield code="0">(DE-588)4180798-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">Physik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4045956-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="0"><subfield code="a">Metall</subfield><subfield code="0">(DE-588)4038860-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2=" "><subfield code="8">4\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2="0"><subfield code="a">Oberflächenphysik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4134881-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2=" "><subfield code="8">5\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Wiedmann, Lothar</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="0"><subfield code="u">https://doi.org/10.1007/978-3-322-88126-7</subfield><subfield code="x">Verlag</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZDB-2-SGR</subfield><subfield code="a">ZDB-2-BAD</subfield></datafield><datafield tag="940" ind1="1" ind2=" "><subfield code="q">ZDB-2-SGR_Archive</subfield></datafield><datafield tag="940" ind1="1" ind2=" "><subfield code="q">ZDB-2-SGR_1815/1989</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027893221</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">4\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">5\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="966" ind1="e" ind2=" "><subfield code="u">https://doi.org/10.1007/978-3-322-88126-7</subfield><subfield code="l">FLA01</subfield><subfield code="p">ZDB-2-SGR</subfield><subfield code="x">Verlag</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV042458014 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-10T01:22:18Z |
| institution | BVB |
| isbn | 9783322881267 9783531027845 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027893221 |
| oclc_num | 915601613 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-634 DE-188 DE-860 DE-706 |
| owner_facet | DE-634 DE-188 DE-860 DE-706 |
| physical | 1 Online-Ressource (III, 45 S.) |
| psigel | ZDB-2-SGR ZDB-2-BAD ZDB-2-SGR_Archive ZDB-2-SGR_1815/1989 |
| publishDate | 1978 |
| publishDateSearch | 1978 |
| publishDateSort | 1978 |
| publisher | VS Verlag für Sozialwissenschaften |
| record_format | marc |
| series2 | Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen, Nr. 2784/Fachgruppe Physik/Chemie/Biologie |
| spelling | Benninghoven, Alfred Verfasser aut Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle von Alfred Benninghoven, Lothar Wiedmann Wiesbaden VS Verlag für Sozialwissenschaften 1978 1 Online-Ressource (III, 45 S.) txt rdacontent c rdamedia cr rdacarrier Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen, Nr. 2784/Fachgruppe Physik/Chemie/Biologie 2784 Die physikalischen und chemischen Eigenschaften einer Fest körperoberfläche werden von ihrer Zusammensetzung im Bereich der obersten Atomlagen bestimmt. Eine möglichst genaue Kennt nis der chemischen Zusammensetzung der Festkörperoberfläche ist Voraussetzung für das Verständnis vieler technisch wich tiger Bereiche wie z. B. Katalyse, Korrosion und Dünnschicht technik. Ein Verfahren zur Oberflächenanalyse, das eine um fassende Information über diese Eigenschaften liefert, sollte daher folgende Forderungen erfüllen: 1. Anwendbarkeit auf beliebige Proben 2. Informationstiefe im Bereich einer Monolage 3. Nachweis von Elementen und Verbindungen 4. Trennung von Isotopen 5. Hohe Empfindlichkeit 6. Hohes Auflösungsvermögen 7. Keine Diskriminierung bestimmter Komponenten 8. Keine Beinflussung der Oberfläche durch den Analysenvorgang selbst Kein Verfahren zur Oberflächenanalyse kann alle diese Forderunger erfüllen. Im Vergleich zu anderen Verfahren wie z. B. der Auger Elektronen-Spektroskopie (AES) (1), der Photoelektronen-Spektros kopie (ESCA) (2,3) oder der Ionenrückstreuung (ISS) (4) besitzt die Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) (5-8) jedoch folgende Vorteile: 1. Direkter Nachweis von chemischen Verbindungen, 2. Nachweis von Wasserstoff und seinen Verbindungen, 3. Trennung von Isotopen, 4. Hohe Empfindlichkeit für viele Elemente und Verbindungen. Damit ist das SIMS-Verfahren insbesondere zur Untersuchung von monomolekularen Oberflächenschichten und Oberflächenreaktionen sowie zur Spurenanalyse geeignet. Ein wichtiger Nachteil des - 2 - Verfahrens ist jedoch die für die einzelnen Elemente und Verbindungen um Größenordnungen verschiedene Nachweis empfindlichkeit, die zudem nicht nur von dem betreffenden Element bzw. der Verbindung selbst, sondern auch von dessen Umgebung, der "Matrix", abhängt Science (General) Science, general Naturwissenschaft Oberflächenphysik (DE-588)4134881-3 gnd rswk-swf Sekundärion (DE-588)4180798-4 gnd rswk-swf Metalloberfläche (DE-588)4169612-8 gnd rswk-swf Metall (DE-588)4038860-8 gnd rswk-swf Physik (DE-588)4045956-1 gnd rswk-swf Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd rswk-swf Metalloberfläche (DE-588)4169612-8 s Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 s 1\p DE-604 Sekundärion (DE-588)4180798-4 s 2\p DE-604 Physik (DE-588)4045956-1 s 3\p DE-604 Metall (DE-588)4038860-8 s 4\p DE-604 Oberflächenphysik (DE-588)4134881-3 s 5\p DE-604 Wiedmann, Lothar Sonstige oth https://doi.org/10.1007/978-3-322-88126-7 Verlag Volltext 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 2\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 3\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 4\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 5\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | Benninghoven, Alfred Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle Science (General) Science, general Naturwissenschaft Oberflächenphysik (DE-588)4134881-3 gnd Sekundärion (DE-588)4180798-4 gnd Metalloberfläche (DE-588)4169612-8 gnd Metall (DE-588)4038860-8 gnd Physik (DE-588)4045956-1 gnd Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4134881-3 (DE-588)4180798-4 (DE-588)4169612-8 (DE-588)4038860-8 (DE-588)4045956-1 (DE-588)4077346-2 |
| title | Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle |
| title_auth | Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle |
| title_exact_search | Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle |
| title_full | Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle von Alfred Benninghoven, Lothar Wiedmann |
| title_fullStr | Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle von Alfred Benninghoven, Lothar Wiedmann |
| title_full_unstemmed | Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle von Alfred Benninghoven, Lothar Wiedmann |
| title_short | Quantitative Bestimmung der Sekundärionenausbeuten sauerstoffbedeckter Metalle |
| title_sort | quantitative bestimmung der sekundarionenausbeuten sauerstoffbedeckter metalle |
| topic | Science (General) Science, general Naturwissenschaft Oberflächenphysik (DE-588)4134881-3 gnd Sekundärion (DE-588)4180798-4 gnd Metalloberfläche (DE-588)4169612-8 gnd Metall (DE-588)4038860-8 gnd Physik (DE-588)4045956-1 gnd Sekundärionen-Massenspektrometrie (DE-588)4077346-2 gnd |
| topic_facet | Science (General) Science, general Naturwissenschaft Oberflächenphysik Sekundärion Metalloberfläche Metall Physik Sekundärionen-Massenspektrometrie |
| url | https://doi.org/10.1007/978-3-322-88126-7 |
| work_keys_str_mv | AT benninghovenalfred quantitativebestimmungdersekundarionenausbeutensauerstoffbedecktermetalle AT wiedmannlothar quantitativebestimmungdersekundarionenausbeutensauerstoffbedecktermetalle |