Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Vienna
Springer Vienna
1977
|
| Schriftenreihe: | Mikrochimica Acta, Archiv für Mikrochemie, Spurenanalyse und Physikalisch-Chemische Mikromethoden / Journal for Microchemistry, Trace Analysis and Physico-Chemical Micromethods / Archives de Microchimie, Analyse des Traces et Microméthodes Physico-Chimiques : Supplementum
7 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext |
| Beschreibung: | Die chemische Zusammensetzung der Oberfläche von Materialien, die aus zwei oder mehr Komponenten bestehen, wird sehr oft durch den Einfluß der Primärelektronen sowie durch das Zerstäuben, wie es zur Reinigung der Probenoberfläche, bzw. zur Aufnahme von Tiefenprofilen verwendet wird, drastisch verändert. In einer quantitativen Beschreibung der Oberflächenzusammensetzung müssen daher die verschiedenen Effekte, die durch die primären Elektronen oder Ionen hervorgerufen werden, grundsätzlich berücksichtigt werden. Entsprechend der Verschiedenartigkeit der auftretenden Effekte scheint es unmöglich, dafür ein allgemeingültiges Modell aufzustellen. Mit der vorliegenden Arbeit wird versucht, den Einfluß der erwähnten Primärteilchen bei der Untersuchung von Oxiden, Carbonaten, Silikaten und Legierungen zu demonstrieren. Im zweiphasigen Legierungssystem Ag-Cu zeigte sich ein zusätzlicher Effekt, der durch die bevorzugte Oberflächendiffusion von Silber erklärt werden kann. Summary Influence of the Prohing Electron Beam and Sputtering in AES The prohing electron beam and sputtering used for cleaning and depth profiling influences the chemical composition of composite materials often in a dramatic way. Therefore, in a complete analysis several effects induced by the incident electrons or ions have to be included in a quantitative description of the surface composition. No general model can be given as these effects depend on the type of material investigated. The present paper deals with oxides, carbonates, silicates, and alloys to show the influence of the prohing electrons or ions |
| Beschreibung: | 1 Online-Ressource (VII, 596 S.) |
| ISBN: | 9783709137246 9783211814338 |
| ISSN: | 0076-8642 |
| DOI: | 10.1007/978-3-7091-3724-6 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nmm a2200000zcb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV042452677 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20170822 | ||
| 007 | cr|uuu---uuuuu | ||
| 008 | 150324s1977 |||| o||u| ||||||ger d | ||
| 020 | |a 9783709137246 |c Online |9 978-3-7091-3724-6 | ||
| 020 | |a 9783211814338 |c Print |9 978-3-211-81433-8 | ||
| 024 | 7 | |a 10.1007/978-3-7091-3724-6 |2 doi | |
| 035 | |a (OCoLC)858044707 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV042452677 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e aacr | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-91 |a DE-634 |a DE-92 |a DE-706 | ||
| 082 | 0 | |a 533.62 |2 23 | |
| 082 | 0 | |a 532 |2 23 | |
| 084 | |a NAT 000 |2 stub | ||
| 100 | 1 | |a Zacherl, M. K. |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 |c herausgegeben von M. K. Zacherl |
| 264 | 1 | |a Vienna |b Springer Vienna |c 1977 | |
| 300 | |a 1 Online-Ressource (VII, 596 S.) | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b c |2 rdamedia | ||
| 338 | |b cr |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a Mikrochimica Acta, Archiv für Mikrochemie, Spurenanalyse und Physikalisch-Chemische Mikromethoden / Journal for Microchemistry, Trace Analysis and Physico-Chemical Micromethods / Archives de Microchimie, Analyse des Traces et Microméthodes Physico-Chimiques : Supplementum |v 7 |x 0076-8642 | |
| 500 | |a Die chemische Zusammensetzung der Oberfläche von Materialien, die aus zwei oder mehr Komponenten bestehen, wird sehr oft durch den Einfluß der Primärelektronen sowie durch das Zerstäuben, wie es zur Reinigung der Probenoberfläche, bzw. zur Aufnahme von Tiefenprofilen verwendet wird, drastisch verändert. In einer quantitativen Beschreibung der Oberflächenzusammensetzung müssen daher die verschiedenen Effekte, die durch die primären Elektronen oder Ionen hervorgerufen werden, grundsätzlich berücksichtigt werden. Entsprechend der Verschiedenartigkeit der auftretenden Effekte scheint es unmöglich, dafür ein allgemeingültiges Modell aufzustellen. Mit der vorliegenden Arbeit wird versucht, den Einfluß der erwähnten Primärteilchen bei der Untersuchung von Oxiden, Carbonaten, Silikaten und Legierungen zu demonstrieren. Im zweiphasigen Legierungssystem Ag-Cu zeigte sich ein zusätzlicher Effekt, der durch die bevorzugte Oberflächendiffusion von Silber erklärt werden kann. Summary Influence of the Prohing Electron Beam and Sputtering in AES The prohing electron beam and sputtering used for cleaning and depth profiling influences the chemical composition of composite materials often in a dramatic way. Therefore, in a complete analysis several effects induced by the incident electrons or ions have to be included in a quantitative description of the surface composition. No general model can be given as these effects depend on the type of material investigated. The present paper deals with oxides, carbonates, silicates, and alloys to show the influence of the prohing electrons or ions | ||
| 650 | 4 | |a Physics | |
| 650 | 4 | |a Fluid- and Aerodynamics | |
| 650 | 0 | 7 | |a Metall |0 (DE-588)4038860-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Legierung |0 (DE-588)4035035-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Oberfläche |0 (DE-588)4042907-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Elektronenstrahlmikroanalyse |0 (DE-588)4151898-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Mikroanalyse |0 (DE-588)4169804-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Festkörper |0 (DE-588)4016918-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Analytische Chemie |0 (DE-588)4129906-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Auger-Spektroskopie |0 (DE-588)4122843-1 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |8 1\p |0 (DE-588)1071861417 |a Konferenzschrift |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Legierung |0 (DE-588)4035035-6 |D s |
| 689 | 0 | |8 2\p |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Elektronenstrahlmikroanalyse |0 (DE-588)4151898-6 |D s |
| 689 | 1 | |8 3\p |5 DE-604 | |
| 689 | 2 | 0 | |a Auger-Spektroskopie |0 (DE-588)4122843-1 |D s |
| 689 | 2 | |8 4\p |5 DE-604 | |
| 689 | 3 | 0 | |a Analytische Chemie |0 (DE-588)4129906-1 |D s |
| 689 | 3 | |8 5\p |5 DE-604 | |
| 689 | 4 | 0 | |a Festkörper |0 (DE-588)4016918-2 |D s |
| 689 | 4 | |8 6\p |5 DE-604 | |
| 689 | 5 | 0 | |a Metall |0 (DE-588)4038860-8 |D s |
| 689 | 5 | |8 7\p |5 DE-604 | |
| 689 | 6 | 0 | |a Mikroanalyse |0 (DE-588)4169804-6 |D s |
| 689 | 6 | |8 8\p |5 DE-604 | |
| 689 | 7 | 0 | |a Oberfläche |0 (DE-588)4042907-6 |D s |
| 689 | 7 | |8 9\p |5 DE-604 | |
| 810 | 2 | |a Mikrochimica Acta, Archiv für Mikrochemie, Spurenanalyse und Physikalisch-Chemische Mikromethoden |p Journal for Microchemistry, Trace Analysis and Physico-Chemical Micromethods / Archives de Microchimie, Analyse des Traces et Microméthodes Physico-Chimiques |t Supplementum |v 7 |w (DE-604)BV011053038 |9 7 | |
| 856 | 4 | 0 | |u https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6 |x Verlag |3 Volltext |
| 912 | |a ZDB-2-SNA |a ZDB-2-BAD | ||
| 940 | 1 | |q ZDB-2-SNA_Archive | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027887923 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 2\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 3\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 4\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 5\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 6\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 7\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 8\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
| 883 | 1 | |8 9\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804153156814241792 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Zacherl, M. K. |
| author_facet | Zacherl, M. K. |
| author_role | aut |
| author_sort | Zacherl, M. K. |
| author_variant | m k z mk mkz |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV042452677 |
| classification_tum | NAT 000 |
| collection | ZDB-2-SNA ZDB-2-BAD |
| ctrlnum | (OCoLC)858044707 (DE-599)BVBBV042452677 |
| dewey-full | 533.62 532 |
| dewey-hundreds | 500 - Natural sciences and mathematics |
| dewey-ones | 533 - Pneumatics (Gas mechanics) 532 - Fluid mechanics |
| dewey-raw | 533.62 532 |
| dewey-search | 533.62 532 |
| dewey-sort | 3533.62 |
| dewey-tens | 530 - Physics |
| discipline | Physik Allgemeine Naturwissenschaft |
| doi_str_mv | 10.1007/978-3-7091-3724-6 |
| format | Electronic eBook |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>05572nmm a2200817zcb4500</leader><controlfield tag="001">BV042452677</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20170822 </controlfield><controlfield tag="007">cr|uuu---uuuuu</controlfield><controlfield tag="008">150324s1977 |||| o||u| ||||||ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783709137246</subfield><subfield code="c">Online</subfield><subfield code="9">978-3-7091-3724-6</subfield></datafield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783211814338</subfield><subfield code="c">Print</subfield><subfield code="9">978-3-211-81433-8</subfield></datafield><datafield tag="024" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">10.1007/978-3-7091-3724-6</subfield><subfield code="2">doi</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)858044707</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV042452677</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">aacr</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-634</subfield><subfield code="a">DE-92</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">533.62</subfield><subfield code="2">23</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">532</subfield><subfield code="2">23</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">NAT 000</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Zacherl, M. K.</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976</subfield><subfield code="c">herausgegeben von M. K. Zacherl</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Vienna</subfield><subfield code="b">Springer Vienna</subfield><subfield code="c">1977</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1 Online-Ressource (VII, 596 S.)</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">c</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">cr</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Mikrochimica Acta, Archiv für Mikrochemie, Spurenanalyse und Physikalisch-Chemische Mikromethoden / Journal for Microchemistry, Trace Analysis and Physico-Chemical Micromethods / Archives de Microchimie, Analyse des Traces et Microméthodes Physico-Chimiques : Supplementum</subfield><subfield code="v">7</subfield><subfield code="x">0076-8642</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Die chemische Zusammensetzung der Oberfläche von Materialien, die aus zwei oder mehr Komponenten bestehen, wird sehr oft durch den Einfluß der Primärelektronen sowie durch das Zerstäuben, wie es zur Reinigung der Probenoberfläche, bzw. zur Aufnahme von Tiefenprofilen verwendet wird, drastisch verändert. In einer quantitativen Beschreibung der Oberflächenzusammensetzung müssen daher die verschiedenen Effekte, die durch die primären Elektronen oder Ionen hervorgerufen werden, grundsätzlich berücksichtigt werden. Entsprechend der Verschiedenartigkeit der auftretenden Effekte scheint es unmöglich, dafür ein allgemeingültiges Modell aufzustellen. Mit der vorliegenden Arbeit wird versucht, den Einfluß der erwähnten Primärteilchen bei der Untersuchung von Oxiden, Carbonaten, Silikaten und Legierungen zu demonstrieren. Im zweiphasigen Legierungssystem Ag-Cu zeigte sich ein zusätzlicher Effekt, der durch die bevorzugte Oberflächendiffusion von Silber erklärt werden kann. Summary Influence of the Prohing Electron Beam and Sputtering in AES The prohing electron beam and sputtering used for cleaning and depth profiling influences the chemical composition of composite materials often in a dramatic way. Therefore, in a complete analysis several effects induced by the incident electrons or ions have to be included in a quantitative description of the surface composition. No general model can be given as these effects depend on the type of material investigated. The present paper deals with oxides, carbonates, silicates, and alloys to show the influence of the prohing electrons or ions</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Physics</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Fluid- and Aerodynamics</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Metall</subfield><subfield code="0">(DE-588)4038860-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Legierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4035035-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Oberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4042907-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektronenstrahlmikroanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4151898-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikroanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4169804-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Festkörper</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016918-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Analytische Chemie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4129906-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Auger-Spektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4122843-1</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="0">(DE-588)1071861417</subfield><subfield code="a">Konferenzschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Legierung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4035035-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Elektronenstrahlmikroanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4151898-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">Auger-Spektroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4122843-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="8">4\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2="0"><subfield code="a">Analytische Chemie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4129906-1</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="3" ind2=" "><subfield code="8">5\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2="0"><subfield code="a">Festkörper</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016918-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="4" ind2=" "><subfield code="8">6\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="5" ind2="0"><subfield code="a">Metall</subfield><subfield code="0">(DE-588)4038860-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="5" ind2=" "><subfield code="8">7\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="6" ind2="0"><subfield code="a">Mikroanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4169804-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="6" ind2=" "><subfield code="8">8\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="7" ind2="0"><subfield code="a">Oberfläche</subfield><subfield code="0">(DE-588)4042907-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="7" ind2=" "><subfield code="8">9\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="810" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Mikrochimica Acta, Archiv für Mikrochemie, Spurenanalyse und Physikalisch-Chemische Mikromethoden </subfield><subfield code="p">Journal for Microchemistry, Trace Analysis and Physico-Chemical Micromethods / Archives de Microchimie, Analyse des Traces et Microméthodes Physico-Chimiques </subfield><subfield code="t">Supplementum</subfield><subfield code="v">7</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV011053038</subfield><subfield code="9">7</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="0"><subfield code="u">https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6</subfield><subfield code="x">Verlag</subfield><subfield code="3">Volltext</subfield></datafield><datafield tag="912" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZDB-2-SNA</subfield><subfield code="a">ZDB-2-BAD</subfield></datafield><datafield tag="940" ind1="1" ind2=" "><subfield code="q">ZDB-2-SNA_Archive</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027887923</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">2\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">3\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">4\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">5\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">6\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">7\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">8\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">9\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | 1\p (DE-588)1071861417 Konferenzschrift gnd-content |
| genre_facet | Konferenzschrift |
| id | DE-604.BV042452677 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-10T01:22:08Z |
| institution | BVB |
| isbn | 9783709137246 9783211814338 |
| issn | 0076-8642 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-027887923 |
| oclc_num | 858044707 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-634 DE-92 DE-706 |
| owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-634 DE-92 DE-706 |
| physical | 1 Online-Ressource (VII, 596 S.) |
| psigel | ZDB-2-SNA ZDB-2-BAD ZDB-2-SNA_Archive |
| publishDate | 1977 |
| publishDateSearch | 1977 |
| publishDateSort | 1977 |
| publisher | Springer Vienna |
| record_format | marc |
| series2 | Mikrochimica Acta, Archiv für Mikrochemie, Spurenanalyse und Physikalisch-Chemische Mikromethoden / Journal for Microchemistry, Trace Analysis and Physico-Chemical Micromethods / Archives de Microchimie, Analyse des Traces et Microméthodes Physico-Chimiques : Supplementum |
| spelling | Zacherl, M. K. Verfasser aut Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 herausgegeben von M. K. Zacherl Vienna Springer Vienna 1977 1 Online-Ressource (VII, 596 S.) txt rdacontent c rdamedia cr rdacarrier Mikrochimica Acta, Archiv für Mikrochemie, Spurenanalyse und Physikalisch-Chemische Mikromethoden / Journal for Microchemistry, Trace Analysis and Physico-Chemical Micromethods / Archives de Microchimie, Analyse des Traces et Microméthodes Physico-Chimiques : Supplementum 7 0076-8642 Die chemische Zusammensetzung der Oberfläche von Materialien, die aus zwei oder mehr Komponenten bestehen, wird sehr oft durch den Einfluß der Primärelektronen sowie durch das Zerstäuben, wie es zur Reinigung der Probenoberfläche, bzw. zur Aufnahme von Tiefenprofilen verwendet wird, drastisch verändert. In einer quantitativen Beschreibung der Oberflächenzusammensetzung müssen daher die verschiedenen Effekte, die durch die primären Elektronen oder Ionen hervorgerufen werden, grundsätzlich berücksichtigt werden. Entsprechend der Verschiedenartigkeit der auftretenden Effekte scheint es unmöglich, dafür ein allgemeingültiges Modell aufzustellen. Mit der vorliegenden Arbeit wird versucht, den Einfluß der erwähnten Primärteilchen bei der Untersuchung von Oxiden, Carbonaten, Silikaten und Legierungen zu demonstrieren. Im zweiphasigen Legierungssystem Ag-Cu zeigte sich ein zusätzlicher Effekt, der durch die bevorzugte Oberflächendiffusion von Silber erklärt werden kann. Summary Influence of the Prohing Electron Beam and Sputtering in AES The prohing electron beam and sputtering used for cleaning and depth profiling influences the chemical composition of composite materials often in a dramatic way. Therefore, in a complete analysis several effects induced by the incident electrons or ions have to be included in a quantitative description of the surface composition. No general model can be given as these effects depend on the type of material investigated. The present paper deals with oxides, carbonates, silicates, and alloys to show the influence of the prohing electrons or ions Physics Fluid- and Aerodynamics Metall (DE-588)4038860-8 gnd rswk-swf Legierung (DE-588)4035035-6 gnd rswk-swf Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd rswk-swf Elektronenstrahlmikroanalyse (DE-588)4151898-6 gnd rswk-swf Mikroanalyse (DE-588)4169804-6 gnd rswk-swf Festkörper (DE-588)4016918-2 gnd rswk-swf Analytische Chemie (DE-588)4129906-1 gnd rswk-swf Auger-Spektroskopie (DE-588)4122843-1 gnd rswk-swf 1\p (DE-588)1071861417 Konferenzschrift gnd-content Legierung (DE-588)4035035-6 s 2\p DE-604 Elektronenstrahlmikroanalyse (DE-588)4151898-6 s 3\p DE-604 Auger-Spektroskopie (DE-588)4122843-1 s 4\p DE-604 Analytische Chemie (DE-588)4129906-1 s 5\p DE-604 Festkörper (DE-588)4016918-2 s 6\p DE-604 Metall (DE-588)4038860-8 s 7\p DE-604 Mikroanalyse (DE-588)4169804-6 s 8\p DE-604 Oberfläche (DE-588)4042907-6 s 9\p DE-604 Mikrochimica Acta, Archiv für Mikrochemie, Spurenanalyse und Physikalisch-Chemische Mikromethoden Journal for Microchemistry, Trace Analysis and Physico-Chemical Micromethods / Archives de Microchimie, Analyse des Traces et Microméthodes Physico-Chimiques Supplementum 7 (DE-604)BV011053038 7 https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6 Verlag Volltext 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 2\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 3\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 4\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 5\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 6\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 7\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 8\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk 9\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | Zacherl, M. K. Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 Physics Fluid- and Aerodynamics Metall (DE-588)4038860-8 gnd Legierung (DE-588)4035035-6 gnd Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd Elektronenstrahlmikroanalyse (DE-588)4151898-6 gnd Mikroanalyse (DE-588)4169804-6 gnd Festkörper (DE-588)4016918-2 gnd Analytische Chemie (DE-588)4129906-1 gnd Auger-Spektroskopie (DE-588)4122843-1 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4038860-8 (DE-588)4035035-6 (DE-588)4042907-6 (DE-588)4151898-6 (DE-588)4169804-6 (DE-588)4016918-2 (DE-588)4129906-1 (DE-588)4122843-1 (DE-588)1071861417 |
| title | Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 |
| title_auth | Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 |
| title_exact_search | Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 |
| title_full | Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 herausgegeben von M. K. Zacherl |
| title_fullStr | Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 herausgegeben von M. K. Zacherl |
| title_full_unstemmed | Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 herausgegeben von M. K. Zacherl |
| title_short | Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976 |
| title_sort | achtes kolloquium uber metallkundliche analyse mit besonderer berucksichtigung der elektronenstrahl und ionenstrahl mikroanalyse wien 27 bis 29 oktober 1976 |
| topic | Physics Fluid- and Aerodynamics Metall (DE-588)4038860-8 gnd Legierung (DE-588)4035035-6 gnd Oberfläche (DE-588)4042907-6 gnd Elektronenstrahlmikroanalyse (DE-588)4151898-6 gnd Mikroanalyse (DE-588)4169804-6 gnd Festkörper (DE-588)4016918-2 gnd Analytische Chemie (DE-588)4129906-1 gnd Auger-Spektroskopie (DE-588)4122843-1 gnd |
| topic_facet | Physics Fluid- and Aerodynamics Metall Legierung Oberfläche Elektronenstrahlmikroanalyse Mikroanalyse Festkörper Analytische Chemie Auger-Spektroskopie Konferenzschrift |
| url | https://doi.org/10.1007/978-3-7091-3724-6 |
| volume_link | (DE-604)BV011053038 |
| work_keys_str_mv | AT zacherlmk achteskolloquiumubermetallkundlicheanalysemitbesondererberucksichtigungderelektronenstrahlundionenstrahlmikroanalysewien27bis29oktober1976 |