Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode: Eine Einführung
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| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Wiesbaden
Vieweg+Teubner Verlag
1994
|
| Ausgabe: | 5., neubearbeitete Auflage |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext |
| Beschreibung: | Die Röntgenfeinstrukturanalyse (XRD-X-Ray Diffraction) ist die wichtigste Methode zur Strukturaufklärung kristallisierten Materials. Sie wird durch die Beugung von Neutro nenstrahlen und Synchrotronstrahlung ergänzt, wobei ähnliche Aufnahme- und Auswer teverfahren Anwendung finden, wie bei der Röntgenbeugung. Die Grundlagen und Methoden der Röntgenstrukturanalyse sind daher für alle Zweige der Naturwissenschaft von Bedeutung. Röntgenographische Untersuchungsmethoden haben sich mit der Verbreitung elektroni scher Rechenanlagen und vor allem durch die starke Zunahme von Kleinrechnern stür misch entwickelt. Das hat sich besonders auf die Qualität von Pulveraufnahmen ausge wirkt. Während bei älteren Untersuchungen von Pulverproben Computer ausschließlich für die Auswertung der Meßergebnisse dienten, werden heute auch die Datensammlung und die Datenkorrektur von Computern gesteuert. Unter Ausnützung aller apparativen Möglichkeiten und durch den Einsatz neuer Auswertemethoden gelingt es, aus Pulver aufnahmen Ergebnisse zu erzielen, die bis vor kurzem Einkristalluntersuchungen vorbe halten waren. Dadurch erweitert sich der Anwendungsbereich der Röntgenmethoden beträchtlich, zumal viele technisch wichtige Materialien nur in Pulverform erhältlich sind. Um maximale Information aus Röntgen-Pulveraufnahmen zu erhalten, muß die Gesamt aufnahme analysiert werden und nicht nur einzelne Interferenzen. Dies gelingt mit Profilanpassungsmethoden, welche die Linienprofile der Röntgenaufnahme mathema tisch erfassen und, wie bei der Rietveldmethode, eine Interpretation der Gesamtaufnah me zum Ziel haben. Die Neuauflage dieses Buches hat dieser Entwicklung Rechnung getragen und die Rietveldverfeinerung in einem eigenen Kapitel behandelt. Da diese Methode Datensätze höchster Qualität erfordert, wurden die Meßbedingungen bei automatische Pulverdiffraktometem (APD) und die Einflüsse der Meßbedingungen auf die Datenqualität ausführlich behandelt. Außerdem wurde der Einsatz von Personal Computern in allen Bereichen stärker berücksichtigt |
| Beschreibung: | 1 Online-Ressource (X, 194 S.) |
| ISBN: | 9783663123484 9783528483241 |
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