Silizium-Halbleitertechnologie:
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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Hilleringmann, Ulrich (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:German
Veröffentlicht: Wiesbaden Vieweg+Teubner Verlag 2004
Ausgabe:4., durchgesehene und ergänzte Auflage
Schriftenreihe:Teubner Studienskripten Soziologie
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Beschreibung:Grundlage der mikroelektronischen Integrationstechnik ist die Silizium-Halbleitertechnologie. Sie setzt sich aus einer Vielzahl von sich wiederholenden Einzelprozessen zusammen, deren Durchführung und apparative Ausstattung extremen Anforderungen genügen müssen, um die geforderten Strukturgrößen bis zu wenigen 100 nm gleichmäßig und reproduzierbar zu erzeugen. Das Zusammenspiel der Oxidationen, Ätzschritte und Implantationen zur Herstellung von MOS- und Bipolarschaltungen werden - ausgehend vom Rohsilizium bis zur gekapselten integrierten Schaltung - aus Sicht des Anwenders erläutert. Das Buch behandelt neben den Grundlagen auch die technische Durchführung der Einzelprozesse zur Integrationstechnik. Zur weiteren Verdeutlichung des Stoffes wurden in der 4. Auflage Abbildungen und vor allem weitere Übungsaufgaben ergänzt. "Ulrich Hilleringmann ist mit seinem (...) Buch genau dies gelungen: die komplexe und umfangreiche Materie präzise und doch stets verständlich darzustellen." Elektronik, 11/2003
Beschreibung:1 Online-Ressource (IX, 326S. 165 Abb)
ISBN:9783322940728
9783519301493
DOI:10.1007/978-3-322-94072-8

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