Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung mittels holografischer Interferometrie:
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Bibliographic Details
Main Author: Neumann, Walther (Author)
Format: Electronic eBook
Language:German
Published: Wiesbaden VS Verlag für Sozialwissenschaften 1977
Series:Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen, Fachgruppe Maschinenbau/Verfahrenstechnik 2619
Subjects:
Online Access:Volltext
Item Description:Das Prinzip der Holografie, d.h. der Speicherung und Wiedergabe von Informationen, die in kohärenten Wellenfeldern enthalten sind, wurde bereits 1948 von D. Gabor [1] beschrieben. Etwa zwölf Jahre später führte die Entwicklung des Lasers zu einer intensiven Forschungstätigkeit auf diesem Gebiet, aus der sich zahlreiche wichtige Anwendungsmöglichkeiten ergaben [2,3,4,5] - Hierzu gehört auch die zerstörungsfreie Werkstoffprüfung mittels holografischer Interferometrie [6] , ein Verfahren, das bereits jetzt in der Luft- und Raumfahrttechnik [6,7,8] , in der Automobil- und Reifenindustrie [6,9] , sowie im Strömungsmaschinenbau [6,10] verwendet wird. Bei diesem Verfahren wird der Prüfkörper von einer kohärenten Welle, im allgemeinen von einem aufgeweiteten Laserstrahl beleuchtet. Der vom Objekt reflektierte Anteil interferiert in einer hochauflösenden Fotoschicht mit der sogenannten Referenzwelle, die keine Information über das Objekt enthält. In dem hierbei entstehenden Interferenzmuster ist die vollständige Amplituden- und Phasenverteilung des Objektwellenfeldes, d.h. ein dreidimensionales naturgetreues Bild des Gegenstandes gespeichert. Nach der Aufnahme dieses ersten Hologramms wird der Prüfkörper durch Änderung seiner Temperatur oder der an ihm angreifenden 4 3 Kräfte um einige 10- - 10- mm verformt, wodurch sich eine entsprechende Anderung der Objektwelle ergibt. Die Überlagerung der beiden leicht unterschiedlichen kohärenten Objektwellen erzeugt ein Interferenzmuster, das Informationen über die Verformung des Prüfkörpers enthält. Sind Materialfehler vorhanden, so führen diese häufig zu einer Störung der Interferenzgrundstruktur, beispielsweise zu auffallenden Richtungsänderungen einzelner Interferenzlinien oder zu kleineren Bereichen mit geschlossenen Interferenzstreifen
Physical Description:1 Online-Ressource (34S.)
ISBN:9783322876522
9783531026190
DOI:10.1007/978-3-322-87652-2

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