Oechsner, H. (1984). Thin Film and Depth Profile Analysis. Springer Berlin Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-46499-7
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Oechsner, Hans. Thin Film and Depth Profile Analysis. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1984. https://doi.org/10.1007/978-3-642-46499-7.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Oechsner, Hans. Thin Film and Depth Profile Analysis. Springer Berlin Heidelberg, 1984. https://doi.org/10.1007/978-3-642-46499-7.
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